[实用新型]一种多功能测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，具体更涉及一种多功能测试设备。

背景技术

目前传统的PCBA(PCBA是英文Printed Circuit Board+Assembly的简称，也就是说PCB空板经过SMT上件，再经过DIP插件的整个制程)检验只能对PCB板进行硬件的检验，对于精密电路板的功能和性能指标无法在板级检测中加以控制，而在精密程度较高的设备，性能上误差会在生产过程中叠加，造成最终设备的精度的差异，所以需要研究一种新型的测试设备。

实用新型内容

针对这一问题，本专利公开了一种用于板级检测的新型测试设备，对待测设备多种功能进行测试，具体的技术方案如下：

一种多功能测试设备，包括测试设备本体和多个接口板，所述多个接口板设置在所述设备本体的侧面外壁，所述多个接口板上分别设置有多个连接待测设备的接口；所述设备本体内部设置有主板、以太网模组、离散量模组和测试电源模组，所述主板上设置有CPU、存储模块、JTAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)模组、串行口模组和射频模组，所述以太网模组、离散量模组、测试电源模组、存储模块、JTAG模组、串行口模组和射频模组分别与所述CPU连接。

本实用新型公开的一种多功能测试设备上述实施例中，所述多个接口板分别为以太网接口板、电源接口板、离散量接口板和综合接口板。

本实用新型公开的一种多功能测试设备上述实施例中，所述以太网接口板上设置有多个以太网接口，多个所述以太网接口通过多个PCIE接口与多个以太网卡连接，所述以太网卡设置在所述以太网模组内部。

本实用新型公开的一种多功能测试设备上述实施例中，所述离散量接口板上设置有多个离散量接口，所述离散量接口与所述离散量模组连接。

本实用新型公开的一种多功能测试设备上述实施例中，所述离散量接口板上还设置有与PC端连接的串口。

本实用新型公开的一种多功能测试设备上述实施例中，所述电源接口板上设置有多个电源接口，所述电源模组上设置有数控模块。

有益效果

本实用新型公开的技术方案可有效提高测试的效率，同时测试的功能较多。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述技术方案和其他特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1为一种多功能测试设备外部接口板结构示意图；

图2为一种多功能测试设备的设备本体的内部电路结构示意图。

具体实施方式

下面，结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述：

如图1和图2所示，图1为一种多功能测试设备外部接口板结构示意图；

图2为一种多功能测试设备的设备本体的内部电路结构示意图。本实用新型公开的一种多功能测试设备，包括测试设备本体01和以太网接口板05，电源接口板03，离散量接口板06，综合接口板04。

设备本体内部01设置有主板22、以太网模组14、离散量模组15和测试电源模组16，主板22上设置有CPU 17、存储模块21、JTAG模组18、串行口模组19和射频模组20，以太网模组14、离散量模组15、测试电源模组16、存储模块21、JTAG模组18、串行口模组19和射频模组20分别与CPU 17连接。电源接口板03上设置有三个电源接口08，测试电源模组16上设置有数控模块(未示出)。

以太网模组14主要是测试待测部件的以太网口的性能；离散量模组15主要是测试待测部件的离散量；测试电源模组16主要是供待测试部件测试时使用，即调节待测部件的电压大小，由于测试电源模组16上设置有数控模块，所以具体的电压调节的幅度和具体测试时使用的电流大小根据数控模块调控；JTAG模组18主要是对待测部件的芯片测试；串行口模组19主要是测试待测部件的串口的功能；射频模组20主要是测试待测设备的射频的性能。