[实用新型]一种大口径精密轮廓测量系统

权利要求书

1.一种大口径精密轮廓测量系统，其特征在于，包括光源(1)、发射镜头(15)、成像镜头(16)、光电探测器(13)和信号处理单元(14)，所述光源(1)、发射镜头(15)、成像镜头(16)和光电探测器(13)垂直于主光轴(6)依次排列；所述光源(1)与发射镜头(15)位于被测物体(7)的前端，形成发射端；所述成像镜头(16)和光电探测器(13)位于被测物体(7)后端，形成反射端；所述光电探测器(13)与信号处理单元(14)相连，所述光源(1)发射的光线经过发射镜头(15)匀光和准直后，照射到被测物体(7)上发生反射、散射和吸收之后，未被被测物体(7)遮挡的光线被成像镜头(16)接收，在光电探测器(13)上形成物体的轮廓信号并传输至信号处理单元(14)处理。

2.根据权利要求1所述的大口径精密轮廓测量系统，其特征在于，所述光源(1)为半导体激光器或者LED，且由一个或若干个组成。

3.根据权利要求2所述的大口径精密轮廓测量系统，其特征在于，所述发射镜头(15)由若干片镜片和滤光片组成或者由若干片镜片和窗口玻璃组成。

4.根据权利要求3所述的大口径精密轮廓测量系统，其特征在于，所述发射镜头(15)由第一透镜(2)、第二透镜(3)、第三透镜(4)以及滤光片A(5)以同轴方式依次排列组成。

5.根据权利要求2所述的大口径精密轮廓测量系统，其特征在于，所述成像镜头(16)为远心镜头，其包括若干片镜片和滤光片或者由若干片镜片和窗口玻璃组成。

6.根据权利要求5所述的大口径精密轮廓测量系统，其特征在于，所述成像镜头(16)由滤光片B(8)、第一成像透镜(9)、第二成像透镜(10)、第三成像透镜(11)和第四成像透镜(12)以同轴方式依次排列组成。

7.根据权利要求2所述的大口径精密轮廓测量系统，其特征在于，所述光电探测器(13)为线阵感光元件或者面阵感光元件。

8.根据权利要求2所述的大口径精密轮廓测量系统，其特征在于，所述信号处理单元(14)包括DSP/ARM处理器、信号调理单元、模拟/数字转换单元、串/并转换传输单元；所述信号调理单元和光电探测器连接以处理光电探测器的电信号，其输出端和模拟/数字转换单元连接用以将模拟信号转换为数字信号，DSP/ARM处理器用于对上述数字信号进行处理并得到被测物体的边缘轮廓。