[实用新型]一种晶体硅组件压力试验的测试装置

权利要求书

1.一种晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，包括压力测试部件、支架和设置在所述压力测试部件的顶端的预定重量的重物，所述压力测试部件穿过所述支架的通孔，所述通孔用于对所述压力测试部件进行限位，使得所述压力测试部件在竖直方向运动。

2.如权利要求1所述晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，所述预定重量的重物为17.8N～89N的重物。

3.如权利要求2所述晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，还包括设置在所述压力测试部件的顶端托盘，所述重物放置在所述托盘内。

4.如权利要求3所述晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，所述压力测试部件的侧面设置有坎肩，用于对所述压力测试部件的向下移动量进行限定。

5.如权利要求4所述晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，还包括设置在所述压力测试部件侧面的电子显示单元，用于显示所述压力测试部件的顶部接触端受到的与被测试组件之间的压力。

6.如权利要求5所述晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，还包括设置在所述支架上的压力调节部件，所述压力调节部件的末端与所述托盘的底面接触，用于使得所述压力测试部件与所述被测试组件之间产生预定数值的压力。

7.如权利要求6所述晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，所述支架为工程塑料支架。

8.如权利要求7所述晶体硅组件压力试验的测试装置，其特征在于，所述支架具有两条支腿，所述支腿的底部为圆形支撑面或矩形支撑面。