[实用新型]一种同轴型阻容积分器有效
| 申请号: | 201621458935.5 | 申请日: | 2016-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN206420938U | 公开(公告)日: | 2017-08-18 |
| 发明(设计)人: | 卫兵;傅贞;卿燕玲;任济;王治;王杰;康军军;李勇;姚斌;丁瑜;蔡坡涛;张元军 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号: | G01R15/00 | 分类号: | G01R15/00 |
| 代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心51210 | 代理人: | 翟长明,韩志英 |
| 地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 同轴 容积 | ||
技术领域
本实用新型属于高电压大电流快脉冲的测量技术领域,具体涉及一种同轴型阻容积分器。
背景技术
在高电压大电流快脉冲的测量技术领域中,微分探头(微分型电容分压器、D-dot探头、微分型罗氏线圈以及B-dot探头等)得到了广泛的使用。此类探头输出电压(或电流)对时间的微分信号。在测量中,需要使用积分器对探头输出的微分信号进行积分,得到电压或电流信号。
在《电工学》等出版物中有积分器的介绍,但仅仅给出了原理电路,缺少杂散参数对积分运算结果的分析以及具体制作方法。目前,绝大多数阻容积分器构造是使用普通电阻和制式电容焊接而成的,杂散参数较大,难以适应高频信号的测量。中国专利文献库公开的《同轴型无源阻容积分器》(专利号ZL201030300079.7)给出了使用特制的薄片圆环结构的积分电容,通过压紧电容两端的导电弹垫实现积分电容电连接的设计,以此解决电容的引脚和连接造成杂散电感的问题,取得了有效的结果,但是通过压紧导电弹垫实现连接的结构在可靠性等方面有待提高。此外,由于积分电容的容量限制,积分器输出连接的测试通道负载阻抗通常为高阻(1 MΩ)。对于ns量级的快信号,当积分器输出端连接一定特征阻抗的电缆时,由于信号反射导致测量波形畸变。因此,目前的阻容积分器采用将输出端直接连接在测试设备输入端口的方式,对于测试设备的布局和测试的方便性产生一定的影响,亟需发展一种同轴型阻容积分器应对工程实际需求。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种同轴型阻容积分器。
本实用新型的同轴型阻容积分器,其特点是:所述的积分器的外壳为圆筒形,输入电缆座和输出电缆座分别位于外壳的两端,输入电缆座芯线从输入电缆座中引出;输入电缆座芯线、印刷电路板的印刷电路板中心电极、积分电阻、积分电容的芯线、输出匹配电阻和插针从左至右依次通过焊接串联,各部件的中心位于外壳的中心线上,积分电容的外导体与连接板的中心连接;插针与输出电缆座的输出电缆座插孔连接;输入匹配电阻由N个电阻并联组成,N≥2,分别为电阻Ⅰ至电阻N,焊接在印刷电路板上,印刷电路板通过后盖螺钉连接在后盖的内端面,后盖再通过入口螺钉连接在外壳的入口端面;连接板与外壳的内壁连通;输出匹配电阻通过绝缘轴套与外壳绝缘。
所述的积分电容的外导体通过螺纹连接或焊接的方式安装在连接板的中心位置,所述的连接板通过紧定螺钉固定在外壳的内壁上,与外壳的内壁连通。
所述的印刷电路板为同心环结构,内环为印刷电路板中心电极,外环为印刷电路板接地电极。
所述的输入匹配电阻由N个电阻并联组成,电阻的一端焊接在印刷电路板中心电极上,另一端焊接在印刷电路板接地电极上,并联后的电阻呈放射状对称布置。
所述的输入电缆座芯线位于输入电缆座基座的中心,输入电缆座芯线和输入电缆座基座之间通过输入电缆座绝缘套绝缘。
所述的输出电缆座插孔位于输出电缆座基座的中心,输出电缆座插孔和输出电缆座基座之间通过输出电缆座绝缘套绝缘。
本实用新型的同轴型阻容积分器使用电阻和电容形成的RC电路对输入信号进行积分运算。该积分器的积分电容采用螺纹连接或焊接的方式,在控制电路杂散电感、提高积分器的频率响应上限的同时,简化了积分器结构和制作工艺,提高了积分器的可靠性;并且,在ns量级的快信号测量中,该积分器的输出端串联了一个匹配电阻,电阻值等于输出端连接电缆的特征阻抗,克服了积分器输出端连接一定特征阻抗的电缆导致的波形畸变问题。本实用新型的同轴型阻容积分器的最高响应频率高于500 MHz,与微分探头配合使用,可以应用于相应高电压大电流快脉冲的测量。
附图说明
图1为本实用新型的同轴型阻容积分器的电路原理图;
图2为本实用新型的同轴型阻容积分器的结构图;
图3为本实用新型的同轴型阻容积分器中的印刷电路板结构图;
图4为图2中的I—I剖视图;
图5为本实用新型的同轴型阻容积分器中的输入电缆座结构图;
图6为本实用新型的同轴型阻容积分器中的输出电缆座结构图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院流体物理研究所,未经中国工程物理研究院流体物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201621458935.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





