[实用新型]一种抗硫化厚膜晶片电阻有效
申请号: | 201621455041.0 | 申请日: | 2016-12-28 |
公开(公告)号: | CN206401111U | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
发明(设计)人: | 黄正信;陈庆良;丁良富;姚元钦;魏效振;顾明德 | 申请(专利权)人: | 丽智电子(昆山)有限公司 |
主分类号: | H01C1/142 | 分类号: | H01C1/142;H01C1/148;H01C1/02 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司32224 | 代理人: | 薛海霞,董建林 |
地址: | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硫化 晶片 电阻 | ||
1.一种抗硫化厚膜晶片电阻,其特征在于:包括氧化铝陶瓷本体(01),所述氧化铝陶瓷本体(01)下表面的两侧分别印刷背面电极(02),上表面的两侧分别印刷正面电极(03),且在两个正面电极(03)之间的氧化铝陶瓷本体(01)上面印刷电阻阻体(04),所述电阻阻体(04)的上表面设置有第一保护层(05),所述电阻阻体(04)上设置有镭切线(06),所述正面电极(03)上表面设置有抗硫化层(07),抗硫化层(07)用于保护正面电极(03)。
2.根据权利要求1所述的一种抗硫化厚膜晶片电阻,其特征在于:所述第一保护层(05)的上表面设置有第二保护层(08),所述第二保护层(08)的上表面设置有字码层(09),所述氧化铝陶瓷本体(01)的两端头侧面设置有侧面电极(10),侧面电极(10)使得正面电极(03)与背面电极(02)导通,且所述背面电极(02)、正面电极(03)和侧面电极(10)上镀有镍层(11),所述镍层(11)的外表面镀有锡层(12)。
3.根据权利要求1所述的一种抗硫化厚膜晶片电阻,其特征在于:所述的抗硫化层(07)与电阻阻体的两端连接,抗硫化层位于正面电极上表面。
4.根据权利要求1所述的一种抗硫化厚膜晶片电阻,其特征在于:所述正面电极(03)为银钯电极。
5.根据权利要求1所述的一种抗硫化厚膜晶片电阻,其特征在于:所述抗硫化层(07)为真空溅镀的镍铬合金。
6.根据权利要求2所述的一种抗硫化厚膜晶片电阻,其特征在于:所述镍层(11)的厚度为4~15μm。
7.根据权利要求2所述的一种抗硫化厚膜晶片电阻,其特征在于:所述锡层(12)的厚度为5~15μm。
8.根据权利要求1所述的一种抗硫化厚膜晶片电阻,其特征在于:所述电阻阻体的印刷面积为:0402规格0.20mm2,0603规格0.47mm2,0805规格1.26mm2,1206规格2.20mm2。
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