[实用新型]一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备

说明书

技术领域

本实用新型属于微波技术领域，尤其涉及一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备。

背景技术

目前，在微波行业中，正常的微波产品在半成品阶段是直接连接噪声分析测试系统测试，此方案仅限于裸机测试，但在装CAP(防尘/防水盖)后，对产品输入的卫星信号的干扰和衰减未进行测试，因微波产品最终是工作在装配CAP情况下的，因此需要对带CAP的微波产品进行测试，验证其对信号的频闭和衰减。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，旨在解决现有技术中未对带CAP的微波产品进行噪声测试的技术问题。

本实用新型是这样实现的：提供了一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，包括与待测微波产品连接且用于与待测微波产品导波口装配CAP后匹配的测试治具、与待测微波产品连接且用于给待测微波产品提供全频段工作切换电压及切换工作频率的固有模拟装置、与所述测试治具连接的杂讯源、分别与所述固有模拟装置和杂讯源连接的噪声分析仪，以及与所述固有模拟装置连接的供电电源。

进一步地，所述设备还包括用于固定所述待测微波产品、杂讯源和测试治具的测试支架。

进一步地，所述测试支架呈L字型。

进一步地，所述噪声分析仪输出的中频信号为10M-3GHz。

进一步地，所述供电电源为直流电源。

进一步地，所述供电电源为所述固有模拟装置提供0V-30V直流稳定电压。

进一步地，所述待测微波产品与所述测试治具无缝对接。

实施本实用新型的一种用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，具有以下有益效果：其通过测试待测微波产品装配CAP时的噪声系数值，为微波产品测试CAP对信号干扰和衰减提供数据参考，提高了微波产品电特性的灵敏度，同时为微波产品研发提供全方位测试并加以改善。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例提供的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接或间接在另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接或间接连接到另一个元件。

还需要说明的是，本实用新型实施例中的左、右、上、下等方位用语，仅是互为相对概念或是以产品的正常使用状态为参考的，而不应该认为是具有限制性的。

如图1所示，本实用新型实施例提供的用于测试微波产品装配CAP后的噪声的设备，为微波产品装配CAP测试时对信号的干扰和衰减提供数据参考，提高了微波产品电特性的灵敏度。具体地，该设备包括测试治具2、固有模拟装置3、杂讯源4、噪声分析仪5和供电电源6。其中，测试治具2与待测微波产品1连接并用于与待测微波产品1导波口装配CAP后匹配；固有模拟装置3与待测微波产品1连接且用于给待测微波产品1提供全频段工作切换电压及切换工作频率；杂讯源4与测试治具2连接，该杂讯源4是一种能产生随机连续频谱的装置，在规定的频带内具有一定的输出噪声功率和均匀的功率谱密度；噪声分析仪5分别与固有模拟装置3和杂讯源4连接；供电电源6与固有模拟装置3连接且用于为固有模拟装置3供电。在本实用新型实施例中，测试治具2、固有模拟装置3、杂讯源4和噪声分析仪5均可分别采用现有技术中常用的测试治具、固有模拟装置、杂讯源和噪声分析仪。另外，测试治具2与待测微波产品1之间、固有模拟装置3与待测微波产品1之间、杂讯源4与测试治具2之间、噪声分析仪5与固有模拟装置3和杂讯源4之间，以及供电电源6与固有模拟装置3之间的连接均可以是电性连接。

本实用新型实施例通过测试待测微波产品1装配CAP时的噪声系数值，为微波产品测试CAP对信号干扰和衰减提供数据参考，提高了微波产品电特性的灵敏度，同时为微波产品研发提供全方位测试并加以改善。