[实用新型]一种双级压缩测试针

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子测试针技术领域，尤其涉及一种双级压缩测试针。

背景技术

测试针，业内也称探针，用于PCB板测试时又分为弹簧针(专用针)和通用针，弹簧针在使用时，需要根据所测试的PCB板的布线情况制作测试模具，且一般情况下，一个模具只能测试一种PCB板；通用针在使用时，只需有足够的点数即可，故现在很多厂家都在使用通用针；弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针，PCB板探针主要用于PCB板测试，ICT探针主要用于插件后的在线测试，BGA探针主要用于BGA封装测试及芯片测试。

目前的测试针，大多数由针轴、套管和弹簧构成，这样的测试针的力度单一，受力压缩空间有限。

因此，寻找一种可以双级受力的测试针成为本技术领域人员所研究的重要课题。

实用新型内容

本实用新型实施例公开了一种双级压缩测试针，用于解决现有技术的测试针力度单一，其受力压缩空间有限的问题。

本实用新型实施例提供了一种双级压缩测试针，包括：套管、第一弹簧、第二弹簧、针轴套管、针轴和尾塞；

所述套管包括底部开口端和第一测试开口端；

所述针轴套管包括第二测试开口端和第一尾端部；

所述第一尾端部套装于所述套管内，所述第二测试开口端伸出所述第一测试开口端；

所述第一弹簧设置于所述套管内，与所述第一尾端部进行连接；

所述尾塞卡紧在所述底部开口端；

所述针轴包括测试头部和第二尾端部；

所述第二尾端部套装于所述针轴套管内，所述测试头部伸出所述第二测试开口端；

所述第二弹簧设置于所述针轴套管内，与所述第二尾端部进行连接。

可选地，还包括卡环；

所述卡环设置于所述第二测试开口端的内壁，用于卡紧所述第二尾端部。

可选地，所述第二弹簧的尺寸与所述第一弹簧的尺寸不同。

可选地，所述第二测试开口端的半径比所述第一测试开口端的半径小。

可选地，所述第一弹簧和所述第二弹簧均为琴钢线弹簧。

可选地，所述套管为黄铜套管；

所述针轴套管为黄铜针轴套管。

可选地，所述针轴为黄铜针轴。

从以上技术方案可以看出，本实用新型实施例具有以下优点：

本实用新型实施例提供了一种双级压缩测试针包括：套管、第一弹簧、第二弹簧、针轴套管、针轴和尾塞；所述套管包括底部开口端和第一测试开口端；所述针轴套管包括第二测试开口端和第一尾端部；所述第一尾端部套装于所述套管内，所述第二测试开口端伸出所述第一测试开口端；所述第一弹簧设置于所述套管内，与所述尾端部进行连接；所述尾塞卡紧在所述底部开口端；所述针轴包括测试头部和第二尾端部；所述第二尾端部套装于所述针轴套管内，所述测试头部伸出所述第二测试开口端；所述第二弹簧设置于所述针轴套管内，与所述第二尾端部进行连接。本实施例中的测试针可以双级受力，先针轴受力再到针轴套管受力，大大增加该测试针的受力空间，使该测试针的受力方式多样化。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本实用新型实施例中提供的一种双级压缩测试针的结构示意图；

图2为本实用新型实施例中提供的一种双级压缩测试针的结构爆炸图；

图示说明：尾塞1；套管2；第一弹簧3；针轴套管4；第二弹簧5；针轴6；卡环7。

具体实施方式

本实用新型实施例公开了一种双级测试针，用于解决现有技术的测试针力度单一，其受力压缩空间有限的问题。

请参阅图1和图2，本实用新型实施例中提供的一种双级测试针的一个实施例包括：套管2、第一弹簧3、第二弹簧5、针轴套管4、针轴6和尾塞1；

套管2包括底部开口端和第一测试开口端；

针轴套管4包括第二测试开口端和第一尾端部；

第一尾端部套装于套管2内，第二测试开口端伸出第一测试开口端；

第一弹簧3设置于套管2内，与第一尾端部进行连接；

尾塞1卡紧在底部开口端；

针轴6包括测试头部和第二尾端部；

第二尾端部套装于针轴套管4内，测试头部伸出第二测试开口端；