[实用新型]半导体乘载盘及其乘载单元有效
申请号: | 201621393385.3 | 申请日: | 2016-12-19 |
公开(公告)号: | CN206250165U | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
发明(设计)人: | 王智 | 申请(专利权)人: | 王智 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司11100 | 代理人: | 张晶,郭佩兰 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 乘载盘 及其 单元 | ||
技术领域
本实用新型关于一种半导体运输装置,特别是关于一种半导体乘载盘。
背景技术
关于半导体的制造产业一般可粗分为上游的集成电路设计,中游的晶圆与集成电路制造,以及下游的封装测试。在台湾,半导体工业的主力会是在中游与下游阶段。
所谓的集成电路制造指将晶圆厂所做好的晶圆,以光罩印上电路基本图样,再以氧化、扩散、CVD、蚀刻、离子植入等方法,将电路及电路上的元件,在晶圆上制作出来。而封装测试则是将加工完成的晶圆,晶切割过后的晶粒,以塑胶、陶瓷或金属包覆,之后则进行其电性与效能的测试。
在封装过程中,用于载运半导体的乘载盘是最常使用的设备之一,而半导体乘载盘的稳定性对于半导体的封装制程过程中的良率有相当的影响,因此半导体乘载盘的乘载稳定性将成为攸关产品良率、制造成本的关键要素。
常见的半导体乘载盘,如中国台湾专利I471254、M519322、M501425等,具有复数个乘载单元,每一个乘载单元具有一基底以及复数个支撑件设置于该基底上。各该支撑件的内侧面具有一抵靠斜面,供半导体元件的边缘抵靠于其上。如此的设计,可产生半导体元件的高稳定乘载状态。然而,此种乘载盘仅能乘载一般正常规格的半导体元件。对于一些特殊规格的半导体元件,例如:接脚(即俗称的金手指)特别凸出,将无法使用。
实用新型内容
本实用新型关于一种半导体乘载盘,其可乘载特殊规格的半导体元件。
为达上述的目的与功效,本实用新型所提供的半导体乘载盘包含有复数个乘载单元,其中各该乘载单元包含:一基底,具有一第一面以及一位于该第一面的反侧的第二面,该第一面上设有一凹槽以及至少一个延伸槽;复数个支撑件,设置于该基底的第一面上,环绕该凹槽;各该支撑件的内侧分别具有一抵靠斜面。
更进一步地,该延伸槽与该凹槽连通。
更进一步地,该延伸槽可容置一半导体元件的一个接脚。
更进一步地,该延伸槽可同时容置一半导体元件的复数个接脚。
更进一步地,在该第二面上设置有复数个填补件,而相邻的两个该填补件间分别形成一凹口;相邻的两个该支撑件间分别形成一缺口;当两个半导体乘载盘上下堆叠在一起时,上方半导体乘载盘的填补件会嵌入下方半导体乘载盘的缺口,下方半导体乘载盘的支撑件则会嵌入下方半导体乘载盘的凹口。
本实用新型还提供一种半导体乘载盘的乘载单元,包含:一基底,具有一第一面以及一位于该第一面的反侧的第二面;复数个支撑件,设置于该基底的第一面上;各该支撑件的内侧分别具有一抵靠斜面;该基底的第一面上设置有至少一延伸槽。
更进一步地,该基底的第一面上设置有一凹槽,该延伸槽与该凹槽连通。
更进一步地,该延伸槽可容置一半导体元件的一个接脚。
更进一步地,该延伸槽可同时容置一半导体元件的复数个接脚。
更进一步地,在该第二面上设置有复数个填补件,而相邻的两个该填补件间分别形成一凹口;相邻的两个该支撑件间分别形成一缺口;当两个半导体乘载盘上下堆叠在一起时,上方半导体乘载盘的填补件会嵌入下方半导体乘载盘的缺口,下方半导体乘载盘的支撑件则会嵌入下方半导体乘载盘的凹口。
本实用新型的有益效果在于:
本实用新型提供一种半导体乘载盘包含有复数个乘载单元,当一个具有凸出的接脚的半导体元件放置于一个乘载单元上时,接脚会洽落入该延伸槽中,使此半导体元件可稳固的放置于本实用新型的半导体乘载盘上,且不会造成损伤。
附图说明
图1为本实用新型一较佳实施例的乘载单元的立体图。
图2为本实用新型一较佳实施例的乘载单元的另一立体图。
图3为本实用新型一较佳实施例的示意图,显示两个半导体乘载盘堆叠在一起。
图4为本一较佳实施例的乘载单元的顶示图,显示半导体元件置于其上的状态。
附图标记
14:乘载单元;16:基底;18:第一面;20:第二面;22:凹槽;24:支撑件;26:抵靠斜面;28:缺口;30:填补件;32:凹口;34、36:延伸槽;40:半导体元件;42、44、46:接脚。
具体实施方式
本实用新型一较佳实施例所提供的半导体乘载盘(图未示)包含有:一外框以及复数个乘载单元,以矩阵的排列方式,相互连接,设置于该外框的内部。以上所述的内容与一般常用的半导体乘载盘相同,本实用新型的特点如下:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造