[实用新型]多按键检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及按键检测技术领域，特别是涉及一种多按键检测装置。

背景技术

随着科技的日新月异，按键式输入装置广泛应用于电子产品中。常见的按键检测方式有三种：独立触发按键，扫描按键和A/D按键。独立按键的每一个按键占用一个I/O资源，按键数量较多的应用场合对控制器的I/O资源要求过高。扫描按键和A/D按键可利用较少的I/O资源设计出按键数量较多的应用电路，然而，这两种方法都存在按键冲突，即多个按键同时被按下时，会出现误触发现象。

为了避免误触发现象，传统的多按键检测方法是在扫描按键的每一个按键上串联一个二极管，利用二极管的单向导通性解决了扫描按键的多按键触发冲突。由于需要大量使用二极管，传统的多按键检测方法存在检测成本高的缺点。

实用新型内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种检测成本低的多按键检测装置。

一种多按键检测装置，包括控制器和内部下拉电阻，所述控制器包括多个测试端口和多个采集端口，所述控制器的测试端口用于分别连接按键模块中同一行的按键，所述控制器的采集端口内部分别设置有一所述内部下拉电阻，且用于分别连接所述按键模块中同一列的按键。

上述多按键检测装置，控制器通过各测试端口分别输出高电平至对应行的按键，控制采集端口均通过对应的内部下拉电阻接地处于下拉状态，并检测采集端口接收的对应列的按键输出的列信号。控制器在检测到存在列信号大于0伏时，保持列信号大于0伏的采集端口处于下拉状态，控制测试端口逐行输出高电平，分别检测处于下拉状态的采集端口再次接收的对应列的按键输出的列信号，并根据再次接收到的列信号得到按键检测结果。结合测试端口和采集端口对按键模块进行扫描，控制器在接收列信号时控制对应的采集端口处于下拉状态，避免不同列的按键同时触发时发生冲突对信号检测造成干扰，避免误触发现象的同时降低了检测成本。

附图说明

图1为一实施例中多按键检测装置的结构图；

图2为一实施例中对按键模块任意两行两列按键进行检测的原理示意图；

图3为一实施例中对按键模块任意两行两列按键进行检测的等效示意图。

具体实施方式

在一个实施例中，一种多按键检测装置，适用于电子乐器等类型的电子产品。如图1所示，该装置包括控制器110和内部下拉电阻，控制器110包括多个测试端口和多个采集端口，控制器110的测试端口用于分别连接按键模块200中同一行的按键，控制器110的采集端口内部分别设置有一内部下拉电阻，且用于分别连接按键模块200中同一列的按键。

按键模块200为m行×n列(m和n为正整数)矩阵扫描按键，其中，按键S(m，n)为按键模块200中第m行第n列的按键，每个按键均一端连接对应的测试端口，另一端连接对应的采集端口。测试端口和采集端口的具体类型并不唯一，本实施例中，测试端口为I/O(input/output，输入/输出)端口，采集端口为A/D(Analog to Digital，模拟量向数字量转换)端口。I/O端口可以输出高/低(1/0)逻辑电平和识别外部输入的高/低逻辑电平，A/D端口用于采集和识别外部输入的模拟电压信号。按键模块200的行信号连接至控制器110的I/O端口，列信号连接至控制器110的A/D端口，通过A/D端口结合I/O端口对按键模块200进行扫描检测。

具体地，I/O端口包括端口I/O1、端口I/O2、…、端口I/Om，A/D端口包括端口AD1、端口AD2、…、端口ADn。每个I/O端口分别连接对应同一行的按键，每个A/D端口分别连接对应同一列的按键。例如，端口I/O1连接按键模块200中第1行的按键S(1，1)、按键S(1，2)、…、按键S(1，n)，端口AD1连接按键模块200中第1列的按键S(1，1)、按键S(2，1)、…、按键S(m，1)。

对矩阵键盘产生冲突的原因进行分析，从矩阵按键电路中任意选出两行两列。举例说明，HA和HB为任意两个行信号，Va和Vb为任意两个列信号，按键1和按键2与行信号HA连接，按键3和按键4与行信号HB连接，键1和按键3与列信号Va连接，按键2和按键4与列信号Vb连接。当其中任意3个按键同时按下时，会引起冲突。例如按键1、按键2、按键3被同时按下，此时，行信号HB和列信号Vb信号通过按键的导通作用被连接到一起，而行信号HB和列信号Vb信号短接等效于4按键被按下，因此，按键控制器无法正确判断4的状态。