[实用新型]一种中心孔精确测量装置有效

专利信息
申请号: 201621325070.5 申请日: 2016-12-05
公开(公告)号: CN206269715U 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 况安勇 申请(专利权)人: 贵州群建精密机械有限公司
主分类号: G01B5/12 分类号: G01B5/12
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所52100 代理人: 刘楠
地址: 563003 贵州省遵义*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 中心 精确 测量 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种中心孔精确测量装置,属于机械测量技术领域。

背景技术

中心孔作为轴类零件加工的工艺基准和检测基准,从而达到了工艺基准和检测基准的统一,有效保证了各加工面之间的位置精度。中心孔已有相应的国家标准规范(其结构如图2所示),其加工是采用成型刀具中心钻加工的,国家标准对中心钻的形式及精度进行规范,加工后的中心孔的主要精度包含60°锥度精度和大端孔径D1大小精度,其中锥度精度由成型刀具保证,孔径的大小由加工过程决定,锥孔直径的大小差异将影响中心孔轴向定位精度,从而影响以中心孔定位轴类产品的加工精度及效率,可见控制轴类产品中心孔的孔径尺寸精度是关系后续加工质量及生产效率的重要环节。在现有轴类产品的中心孔加工过程中,由于中心孔是60°锥角,常规方法不能精确检测孔径的大小,通常采用比较的方式测量,误差较大,加工后中心孔孔径大小的误差也就更大。

实用新型内容

本实用新型的目的在于,提供一种中心孔精确测量装置。以解决现有测量技术的不足。

本实用新型的技术方案:

一种中心孔精确测量装置,其特征在于:包括百分表和校对样件;百分表的轴套外套有连接套,连接套经锁紧螺钉与轴套固定;校对样件位于连接套端部;百分表的测量杆端部设有测量头,测量头与校对样件上的中心孔接触。

前述中心孔精确测量装置中,所述连接套与百分表的轴套小间隙配合。

前述中心孔精确测量装置中,所述测量头与测量杆端部螺纹连接;测量头为60°圆锥头,测量头的大端直径大于被检测中心孔锥面的大端直径。

前述中心孔精确测量装置中,所述校对样件上的中心孔为标准尺寸中心孔。

与现有技术相比,本实用新型以通用量具百分表为测量主要工具,通过制作联接套和将百分表上原有的球形测量头改制成60°圆锥体,并制作校对样件用于校对量表,并结合锥度比值关系,即可完成中心孔锥面大端直径的精确测量,从而通过加工控制,保证批次产品的一致性,从而保证后续以此为加工基准的产品精度,同时也提高了后续工序的生产效率。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图;

图2是校对样件上中心孔的示意图。

图中标记为:1-百分表、2-轴套、3-连接套、4-测量杆、5-测量头、6-校对样件、7-锁紧螺钉。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明,但不作为对本实用新型的任何限制。

一种中心孔精确测量装置,如图1所示,包括百分表1和校对样件6;百分表1的轴套2外套有连接套3,连接套3经锁紧螺钉7与轴套2固定;校对样件6位于连接套3端部;百分表1的测量杆4端部设有测量头5,测量头5与校对样件6上的中心孔接触。连接套3与百分表1的轴套2小间隙配合。测量头5与测量杆4端部螺纹连接;测量头5为60°圆锥头,测量头5的大端直径大于被检测中心孔锥面的大端直径。校对样件6上的中心孔为标准尺寸中心孔。

实施例

本例由百分表1、连接套3、测量头5、校对样件6、锁紧螺钉7构成。连接套3与百分表1上的轴套2小间隙配合,根据测量要求调整轴向位置后通过锁紧螺钉7固定。测量头5与百分表1的测量杆4螺纹联接,并将百分表1原来的球形测量头改为60°圆锥状的测量头5,圆锥状的测量头5锥度与中心孔的锥度相匹配,圆锥状的测量头5大端直径必须大于被检测中心孔锥面的大端直径D1。校对样件6的中心孔如图2所示,按被检测中心孔的理论尺寸要求制作,并计量出锥面大端孔径的实际尺寸D1,以便产品检测时计算测量的偏差。

本实用新型的调整及使用:

调整装置时,先将百分表1原来的球形测量头换成60°圆锥状的测量头5,再将连接套3套在百分表1的轴套2外面,用校对样件6调整连接套3的位置,然后拧紧锁紧螺钉7将连接套3位置固定。调整装置时,需要充分考虑百分表1的工作原理,即产品中心孔的实际尺寸超出要求公差的上限值或下限值时,百分表仍能处于正常测量状态。

装置的使用:首先用校对样件6,确定百分表1的基准零位,根据被检测中心孔的上下偏差,计算检测的上下偏差。由于要检测的是锥度孔的直径大小,而该装置检测的是轴向变量,因此这里存在数据的转换,根据锥度的比值计算公式计算得出60°的锥度比为1:0.866,即60°的锥度在直径上1mm的尺寸公差变化反应在轴向方向的位移公差为0.866mm,由此得出测量值的上下偏差:

上偏差=(产品中心孔尺寸上限值-校对样件实测值)×0.866

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