[实用新型]微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量控制系统有效

专利信息
申请号: 201621321554.2 申请日: 2016-12-02
公开(公告)号: CN206192548U 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 赵勇 申请(专利权)人: 深圳市华宇半导体有限公司
主分类号: G01K19/00 分类号: G01K19/00
代理公司: 佛山市广盈专利商标事务所(普通合伙)44339 代理人: 杨乐兵
地址: 518104 广东省深圳市宝安区西乡街道*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 功耗 皮秒级 时差 信号 捕捉 测量 控制系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及LC9502芯片检测技术领域,具体涉及微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量控制系统。

背景技术

在超声波热计量产品中,系统要获取水流速度和当前水温两个基本的物理量,才能计算出热量。其中,测量水流速度时需要精确测量超声波在管道中的传播时间,只有时间测量精度达到100ps级别才能计算出符合国家精度标准的产品。LC9502芯片是一种微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量芯片,即用于超声波检测芯片,对于待测芯片一般需要进行通讯测试、温度测试、测量范围测试和功耗测试,测量项目较多,目前对于微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量芯片,一般的测试系统结构复杂,对每个测量项目需要采用不同的测试系统进行检测,耗时耗力,对待测芯片无法进行精确测量,容易产生不合格产品,对于后期使用造成严重影响。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足,公开了微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量控制系统,提高简单可行的测试系统,提高测试效率。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:

一种微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量控制系统,包括:测试机和超声波测试电路,所述超声波测试电路包括信号产生电路、超声波电路和微处理器,所述信号产生电路的输出端连接超声波电路,所述超声波电路的输出端连接微处理器,所述测试机内部设置电源、接口电路和运算电路和存储器,所述电源通过电源接口与超声波电路和微处理器连接,所述运算电路分别与存储器和接口电路连接,所述接口电路包括发送输出接口、接收输入接口和脉冲检测接口,所述测试机通过发送输出接口和接收输入接口与微处理器的输入输出接口连接,所述测试机通过脉冲检测接口与信号产生电路连接。

进一步地,所述测试机设置两组测试系统,每个测试系统与一个超声波测试电路连接。

进一步地,所述发送输出接口通过6个IO管脚接口与两组超声波测试电路连接。

进一步地,所述信号产生电路采用频率为1MHZ,幅值为3.3V的两组反向脉冲。

本实用新型的有益效果为:

本实用新型实施例中,信号产生电路产生脉冲信号为超声波电路提供驱动信号,微处理器接收超声波电路的信号并与测试机进行数据通信,测试机根据微处理器传输的信息对待测芯片进行测试,测试机通过脉冲检测接口对信号产生电路产生的脉冲信号进行检测,确保输出脉冲符合检测标准,测量数据存储部分,由测试机直接测量的数据可以进行存储。测试机采用两组测试系统,可以同时对两个待测芯片进行检测,这样可以提高测试效率。

附图说明

图1为本实用新型提出的微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量控制系统结构图;

图2为本实用新型提出的微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量控制系统电路框图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例描述本实用新型具体实施方式:

参见图1和图2,其中图1为本实用新型提出的微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量控制系统结构图;图2为本实用新型提出的微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量控制系统电路框图。

如图1和图2所示,一种微功耗皮秒级时差信号捕捉与测量控制系统,包括:测试机和超声波测试电路,所述超声波测试电路包括信号产生电路、超声波电路和微处理器,所述信号产生电路的输出端连接超声波电路,所述超声波电路的输出端连接微处理器,所述测试机内部设置电源、接口电路和运算电路和存储器,所述电源通过电源接口与超声波电路和微处理器连接,所述运算电路分别与存储器和接口电路连接,所述接口电路包括发送输出接口、接收输入接口和脉冲检测接口,所述测试机通过发送输出接口和接收输入接口与微处理器的输入输出接口连接,所述测试机通过脉冲检测接口与信号产生电路连接。

本实用新型实施例中,信号产生电路产生脉冲信号为超声波电路提供驱动信号,微处理器接收超声波电路的信号并与测试机进行数据通信,测试机根据微处理器传输的信息对待测芯片进行测试,测试机通过脉冲检测接口对信号产生电路产生的脉冲信号进行检测,确保输出脉冲符合检测标准,测量数据存储部分,由测试机直接测量的数据可以进行存储。

进一步地,所述测试机设置两组测试系统,每个测试系统与一个超声波测试电路连接。

本实用新型实施例中,测试机采用两组测试系统,可以同时对两个待测芯片进行检测,这样可以提高测试效率。

进一步地,所述发送输出接口通过6个IO管脚接口与两组超声波测试电路连接。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华宇半导体有限公司,未经深圳市华宇半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201621321554.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top