[实用新型]多功能智能坐标检测仪用测头库位系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种坐标检测仪辅助机构，特别是一种多功能智能坐标检测仪用测头库位系统。

背景技术

目前，传统的测量仪器都是单一用途。例如：轮廓度仪只能检测物体的外形轮廓，圆度仪只能测量物体的圆度、圆柱度，粗糙度仪只能检测物体表面粗糙度程度等等。要想使一个设计比较复杂的工件的加工制作与设计要求相符，就必须对工件加工后的各种数据进行测量。比如说工件上相应特征的直线度、平面度、位置度、圆柱度、同轴度、垂直度、圆跳动等等。而以这些数据作为目标量进行精密地测量，就需要有较高精密的仪器来进行操作。在本行业内部通常的方式是：使用不同精度，不同类型的仪器，轮流检测。这样做既增加成本，又占用大量空间，浪费大量人力物力。因为测量流程太多，检测精度也达不到理想效果，检测结果差异比较大。因此现在需要一种能够在一台机器上完成上述测量工作的装置，以达到一机多用，节省成本、提高测量精度的目的。但这种装置首先需要一个能够放置多种不同测头的机构，来满足快速更换测头的需求。

发明内容

本实用新型是为了解决现有技术所存在的上述不足，提出一种结构简单，设计巧妙，可以放置多种不同的测头，并可供检测仪的Z轴快速取放的测头库位系统。

本实用新型的技术解决方案是：一种多功能智能坐标检测仪用测头库位系统，其特征在于：所述的测头库位系统包括固定设置在检测仪上的测头库位架1，在测头库位架1上并列地设置有多个测头库位盒2，每个测头库位盒2内都设置有电动导轨3，在不同的测头库位盒2内分别放置有粗糙度测头、扫描式测头、工显类测头、触发式测针和非接触式测针，上述的所有测头或测针都设置在一个测头连接法兰4下方，所述的测头连接法兰4上开设有环形槽5，所述的环形槽5与电动导轨3相配，在测头连接法兰4的顶面上还设置有三个键6，并且这三个键6在圆周上均匀分布。

本实用新型同现有技术相比，具有如下优点：

本种结构形式的测头库位系统，其上能够放置多个不同的测头（粗糙度测头、扫描式测头、工显类测头、触发式测针和非接触式测针等），并且这些测头通过一个特殊结构的测头连接法兰与测头库位盒连接，该测头连接法兰能够让检测仪的Z轴快速的将其从库位盒中进行取、放操作，以实现不同测头之间的快速切换。这种测头库位系统的出现，为多功能的坐标检测仪提供了基础构件，并且它的制作工艺简单，制造成本低廉，因此可以说它具备了多种优点，特别适合于在本领域中推广应用，其市场前景十分广阔。

附图说明

图1为本实用新型实施例的整体结构示意图。

图2为图1中的A部放大图。

图3为本实用新型实施例测针连接法兰的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图说明本实用新型的具体实施方式。如图1、图2、图3所示：一种多功能智能坐标检测仪用测头库位系统，所述的测头库位系统包括固定设置在检测仪上的测头库位架1，在这个测头库位架1上并列地设置有多个测头库位盒2，而每个测头库位盒2内都设置有电动导轨3，在不同的测头库位盒2内分别放置有不同的测头或测针，如粗糙度测头、扫描式测头、工显类测头、触发式测针和非接触式测针。上述的所有测头或测针都设置在一个测头连接法兰4下方，所述的测头连接法兰4上开设有环形槽5，该环形槽5与电动导轨3相配，在测头连接法兰4的顶面上还设置有三个键6，并且这三个键6在圆周上均匀分布。

本实用新型实施例的多功能智能坐标检测仪用测头库位系统的工作过程如下：本装置中的测头库位架1安装在检测仪内，并将粗糙度测头、扫描式测头、工显类测头、触发式测针和非接触式测针这五种测针分别连接在测头库位盒2内，需要取用某种测针时，检测仪的Z轴运动至该测针所对应的测头库位盒2处，由于Z轴上设置有电磁装置。因此Z轴前端连接法兰能够与测头连接法兰4磁性连接，并驱动测头连接法兰4从测头库位盒2中滑出，Z轴前端连接法兰能够与测头连接法兰4磁性连接，由于在测针连接法兰4的顶面上设置有三个在圆周上均匀分布的键6，因此可以保证测头连接法兰4与Z轴前端连接法兰之间能够进行稳固的连接。

Z轴带动该测针对检测仪内的工件进行测量操作，测量结束后，将该测针回到空闲的测头库位盒2处，并将其推送到测头库位盒2内（让测头连接法兰4上的环形槽5重新与电动导轨3连接），并到另一个测头库位盒2处拿取另一个测头，以进行不同参数的测量工作。