[实用新型]双片检测机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种双片检测机构。

背景技术

之前的双面检测机构，主要采用传感器来检测，当每次更换不同的材料时需要设定程序，设定程序繁琐复杂。这种方法的缺点：

①检测材料的局域性，只能检测金属类，表面平整的工件；

②该机构目前的工作方式是通过光的反射对工件进行检测，对工件的要求高，工作环境要好，具有很大的局限性；

③安装方式的局限性，检测的工件必须通过该机构的上方，或中间，对工件运动机构有一定的要求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服背景技术中的不足，提供一种双片检测机构，其适用范围大，便于检测。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案：

双片检测机构，包括：

模板；

型材，通过所述型材将所述模板与机械手连接；

电子称量系统，所述电子称量系统与所述模板的底部连接，所述电子称量系统通过控制通信线路连接电控系统上位机；

治具板，所述治具板与所述电子称量系统的底部连接；

用于抓取工件的夹爪系统，所述夹爪系统与所述治具板连接。

于本实用新型的一个或多个实施例当中，所述型材是铝型材。

于本实用新型的一个或多个实施例当中，所述模板包括底板以及位于所述底板两侧的左侧板和右侧板，在所述底板、左侧板和右侧板之间形成槽位，所述型材底部与所述槽位连接。

于本实用新型的一个或多个实施例当中，所述夹爪系统包括多个真空吸盘，在所述治具板上沿周向开设有多个安装孔，所述真空吸盘顶部与所述安装孔连接。

于本实用新型的一个或多个实施例当中，每个所述安装孔沿径向延伸。

于本实用新型的一个或多个实施例当中，所述夹爪系统包括多个夹具。

本实用新型同背景技术相比所产生的有益效果：

1、电子称量系统与夹爪系统连接在一起，减少整个机构的误差，使得检测更精确。

2、该机构是具备运算与对比功能，设置简便。

3、该机构对自动化生产的运动轨迹没有要求，对工件材料没有要求，适用性强，适用范围广。

4、该机构是一体式，缩短了检测时间，加快了加工的节拍，提高了生产效率。

附图说明

图1为实施例中双片检测机构的立体示意图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述的实施例示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，对于方位词，如有术语“中心”，“横向”、“纵向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示方位和位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于叙述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定方位构造和操作，不能理解为限制本实用新型的具体保护范围。

此外，如有术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”特征可以明示或者隐含包括一个或者多个该特征，在本实用新型描述中，“至少”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除另有明确规定和限定，如有术语“组装”、“相连”、“连接”术语应作广义去理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；也可以是机械连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介相连，可以是两个元件内部相连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述的术语在本实用新型中的具体含义。

在实用新型中，除非另有规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“之下”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅是表示第一特征水平高度高于第二特征的高度。第一特征在第二特征“之上”、“之下”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。