[实用新型]一种适用于多器件辐照评估试验的测试板有效

专利信息
申请号: 201621251651.9 申请日: 2016-11-15
公开(公告)号: CN206147051U 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 张薇;闫蕊;刘刚;边庆刚 申请(专利权)人: 北京锐达芯集成电路设计有限责任公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 北京正理专利代理有限公司11257 代理人: 付生辉,张雪梅
地址: 101111 北京市大兴区经济技术*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 器件 辐照 评估 试验 测试
【权利要求书】:

1.一种适用于多器件辐照评估试验的测试板,其特征在于,包括电路板(1)、固定于所述电路板(1)上的多个分立夹具(2)和正负极接口(3);

所述每一分立夹具(2)包括双列直插插座(4)、分别与双列直插插座(4)的各管脚一一对应的排插(5)和保护电阻(6);

所述正负极接口(3)包括用于外接电源的正极端(7)和负极端(8);

每一排插(5)包括相互绝缘的第一端子(9)、第二端子(10)和第三端子(11),其中,

第一端子(9),与所述负极端(8)电连接;

第二端子(10),与所述双列直插插座(4)的相应管脚电连接;

第三端子(11),与相应的保护电阻(6)的一端电连接;

所述保护电阻(6)的另一端与所述测试板的正极端(7)电连接。

2.根据权利要求1所述测试板,其特征在于,该测试板进一步包括多个用于短接第一端子(9)和第二端子(10)或用于短接第二端子(10)和第三端子(11)的跳线帽。

3.根据权利要求2所述测试板,其特征在于,当所述跳线帽短接第一端子(9)和第二端子(10)时,所述双列直插插座(4)对应管脚为低电位;当所述跳线帽短接第二端子(10)和第三端子(11)时,所述双列直插插座(4)对应管脚为高电位;当所述排插(5)不插接所述跳线帽时,所述双列直插插座(4)对应管脚呈悬空状态。

4.根据权利要求1所述测试板,其特征在于,所述多个分立夹具(2)为对称布置在所述电路板(1)上的偶数个分立夹具(2)。

5.根据权利要求4所述测试板,其特征在于,所述多个分立夹具(2)为4、6、8或10个分立夹具(2)。

6.根据权利要求1所述测试板,其特征在于,所述各保护电阻(6)与正极端(7)的连接布线(12)位于所述电路板(1)的第一面上,各排插(5)第一端子(9)与负极端(8)的连接布线(13)位于所述电路板(1)的第一和第二面上。

7.根据权利要求6所述测试板,其特征在于,各排插(5)第一端子(9)引出线形成在电路板(1)的第二面上,通过设置于所述电路板(1)中央的多个通孔电连接至电路板(1)第一面并布线至所述负极端(8)。

8.根据权利要求1所述测试板,其特征在于,所述双列直插插座(4)包括20个管脚。

9.根据权利要求1所述测试板,其特征在于,所述双列直插插座(4)用于插接封装形式为DIP型的芯片。

10.根据权利要求1所述测试板,其特征在于,所述保护电阻(6)的阻值为10K。

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