[实用新型]一种弹簧压迫式的检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及老化房中的检测机架，特别是一种弹簧压迫式的检测装置。

背景技术

随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会产生潜伏缺陷。对一个好的电子产品，不但要求有较高的性能指标，而且还要有较高的稳定性。电子产品的稳定性取决于设计的合理性、元器件性能以及整机制造工艺等因素。目前，国内外普遍采用高温带电动态老化工艺来模拟产品在使用状态下的性能情况，以提高电子产品的稳定性和可靠性，通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的产品能经得起时间的考验。

传统老化房内设有大量的检测器件，检测器件接出的电缆和端子由于数量过多且没有合理分布设计，导致电缆和端子凌乱和散落地上，容易缠绕，不安全且给检测接线带来诸多麻烦，且检测器件的安装过于方繁琐，导致工作效率低下。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺点，本实用新型的目的是发明带有统一安装检测器件的冶具，且通过冶具免去繁琐的接线分配与工序的一种弹簧压迫式的检测装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种弹簧压迫式的检测装置，包括老化架，所述老化架设有若干检测层，其中：所述检测层上设有若干个限位组件，每个限位组件上设有冶具组件、检测连接用的第一正负极，所述第一正负极位于检测层的前端线槽，所述前端线槽在第一正负极两侧设有弹簧元件，所述检测层的后端设有压板，所述冶具组件在底部设有检测连接的第二正负极，所述第一正负极与第二正负极通过压迫弹簧元件连接。

所述第一正负极和第二正负极采用铜制的接触体，由于检测层的放置面板倾斜放置，使冶具组件在重力作用下往检测前端下滑，接触并轻微压迫弹簧元件。所述限位组件包括在检测层的放置面板两条竖直的档条，所述档条用于限定冶具组件的水平方向移动。

所述冶具组件由于限位组件与压板的作用，在检测层上垂直向前端移动，并压迫弹簧元件，直至第一正负极与第二正负极接触通电检测。

作为本实用新型的进一步改进：所述冶具组件分为上部的检测区和底部的藏线区，所述第二正负极由藏线区引出，置于的冶具组件底部外表。所述检测区上设有若干个放置检测器件的检测位，所述检测位引出的检测线体藏于底部的藏线区，并相应连接第二正负极，免去检测安装过程中的接线工序和线体的整理分布，提高产品检测的效率。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过冶具组件将检测器件在检测安装时的接线工序组件化与批量化，免去检测器件检测时的接线工序，检测安装更方便，提高产品检测的效率，同时检测线体不外漏，提高安全性能。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为图1的局部放大结构示意图。

具体实施方式

现结合附图说明与实施例对本实用新型进一步说明：

参考图1和图2，一种弹簧压迫式的检测装置，包括老化架1，所述老化架1设有若干检测层2，其中：所述检测层2上设有若干个限位组件3，每个限位组件3上设有冶具组件4、检测连接用的第一正负极5，所述第一正负极5位于检测层2的前端线槽7，所述前端线槽7在第一正负极5两侧设有弹簧元件6，所述检测层2的后端设有压板10，所述冶具组件4在底部设有检测连接的第二正负极8，所述第一正负极5与第二正负极8通过压迫弹簧元件6连接。

所述第一正负极5和第二正负极8采用铜制的接触体，由于检测层2的放置面板9倾斜放置，使冶具组件4在重力作用下往检测前端下滑，接触并轻微压迫弹簧元件6。

所述限位组件3包括在检测层2的放置面板9上两条竖直的档条，所述档条用于限定冶具组件4的水平方向移动。

所述冶具组件4由于限位组件3与压板10的作用，在检测层2上垂直向前端移动，并压迫弹簧元件6，直至第一正负极5与第二正负极8接触通电检测。

所述冶具组件4分为上部的检测区41和底部的藏线区42，所述第二正负极8由藏线区42引出，置于的冶具组件4底部外表。

所述压板10设有伸缩推块11，所述伸缩推块11在需要单独更换检测器件情况下收缩，冶具组件4由于减少向前端的压迫力和弹簧元件6推力，往上移动松开，取出冶具组件4以及冶具组件4内的检测器件，同一检测层2的其他冶具组件4不受影响，独立操作。

综上所述，本领域的普通技术人员阅读本实用新型文件后，根据本实用新型的技术方案和技术构思无需创造性脑力劳动而作出其他各种相应的变换方案，均属于本实用新型所保护的范围。