[实用新型]一种IC测试装置及其程控分频器

说明书

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种IC测试装置的程控分频器。本实用新型还涉及一种IC测试装置。

背景技术

IC测试装置是用于对集成芯片的功能或性能进行测试的装置，随着微电子技术的发展和市场对集成芯片的需求量不断增加，促使IC测试装置也跟随其不断发展，目前集成芯片的集成度越来越高，功能越来越复杂，性能越来越好，功耗越来越低，导致目前集成芯片的种类越来越多，功能和性能各异。

由于有些种类的待测试芯片只需要对输出的低频脉冲信号进行测试，而有些种类的待测试芯片只需要对输出的高频脉冲信号进行测试，当操作人员从前者待测试芯片切换到后者待测试芯片，或者反之时，或者是同一种类待测试芯片不仅需要对输出的低频脉冲信号进行测试，而且还需要对输出的高频脉冲信号进行测试，当对输出的低频脉冲信号与输出的高频脉冲信号进行切换测试时，若想保证使用同一个IC测试装置能够测试各种待测芯片，需要IC测试装置测量的频率范围很宽。但是目前的IC测试装置能够测量的频率范围较窄，并且当待测试芯片对应的时钟信号频率过高时，IC测试装置中的微控制器无法对该时钟信号进行采集；另外，对芯片进行测试时主要包括两种测试类型，一种是测试芯片各个IO口输出的脉冲信号或时钟信号的频率是否符合要求，另一种是测量芯片的SNR(信噪比)，在测试信噪比时，由于有些待测试芯片只能输出码流数据的采集时钟频率的整数倍的时钟信号频率，这种情况下会导致无法得到码流数据的采集时钟频率，进而无法计算信噪比。即目前的IC测试装置适用范围窄。

因此，如何提供一种适用于的芯片种类多、应用范围广的IC测试装置及其程控分频器是本领域技术人员目前需要解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种IC测试装置的程控分频器，能够在时钟信号的频率过高使得微控制器无法采集时或需要进行SNR测试但芯片输出的时钟信号的频率为码流数据的采集时钟频率的整数倍时，对时钟信号进行分频处理；本实用新型的另一目的是提供一种包括上述程控分频器的IC测试装置。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种IC测试装置的程控分频器，包括：

微控制器，所述微控制器上设置有码流数据采集接口以及时钟信号采集接口；所述码流数据采集接口连接待测试芯片的码流数据输出接口；所述时钟信号采集接口通过分频选择电路连接时钟信号输出接口或待测试芯片的脉冲信号输出接口；

所述微控制器用于按照预设规则生成控制指令控制所述分频选择电路的分频倍数；按照预设策略分析采集到的码流数据以及时钟信号或脉冲信号，依据分析结果判断所述待测试芯片是否合格；

用于依据所述控制指令选择分频倍数对时钟信号或所述待测试芯片输出的脉冲信号进行分频处理的所述分频选择电路。

优选地，所述时钟信号输出接口位于所述待测试芯片上，用于输出所述待测试芯片生成的时钟信号；

或所述时钟信号输出接口与所述待测试芯片连接，用于输出所述IC测试装置或时钟信号生成装置生成的时钟信号。

优选地，还包括：

分别连接所述微控制器以及所述待测试芯片的通信线路，所述微控制器通过所述通信线路配置所述时钟信号输出接口或所述脉冲信号输出接口的输出信号频率。

优选地，所述时钟信号采集接口具体包括第一接口以及第二接口；

所述第一接口通过所述分频选择电路连接所述时钟信号输出接口或所述脉冲信号输出接口；所述第二接口通过所述分频选择电路连接所述时钟信号输出接口。

优选地，所述分频选择电路包括N个开关装置、N-2个分频倍数不同的分频电路，N大于3；

第一开关装置的第一端连接所述第一接口，第二开关装置的第一端连接所述第二接口；

所述第一开关装置的第二端与所述第二开关装置的第二端均分别连接第三开关装置至第N开关装置的第一端；所述第三开关装置至所述第N开关装置的第二端分别通过对应的分频电路连接所述时钟信号输出接口和所述脉冲信号输出接口；

所述微控制器分别与N-2个所述分频电路的控制端相连，用于控制N-2个所述分频电路的开闭状态。

优选地，所述分频选择电路包括8个所述开关装置和6个所述分频电路；6个所述分频电路分别为一分频电路、二分频电路、四分频电路、八分频电路、十六分频电路、三十二分频电路。

优选地，所述开关装置为继电器。

优选地，还包括：

与所述微控制器相连的，用于存储所述微控制器采集的码流数据的存储芯片。