[实用新型]一种基于光全散射法的颗粒测量系统有效

专利信息
申请号: 201621201781.1 申请日: 2016-11-08
公开(公告)号: CN206862832U 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 周嵘;赵雪怡;刘演华 申请(专利权)人: 河海大学常州校区
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 常州市科谊专利代理事务所32225 代理人: 孙彬
地址: 213022 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 散射 颗粒 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种基于光全散射法的颗粒测量系统,其特征在于:所述系统包括LED光源、聚光透镜一、聚光透镜二、光圈一、光圈二、准直透镜、分束镜、旋转机构、光纤耦合头一、光纤耦合头二、气溶胶颗粒、多元光纤分布板一、多元光纤分布板二、光电倍增管及放大管、计算机;所述LED光源为系统提供不同光强的点光源,所述LED光源发射出的光线通过聚光透镜一、光圈一以及准直透镜,变为系统所需要的平行光线光源,所述平行光线光源照射至分束镜,所述分束镜通过旋转机构控制,能够将光线路线改变为上下两个方向,上下两个方向之间相差180°,通过旋转机构实现切换;

光线向上的方向用于测量出射光信号,光线依次通过气溶胶颗粒、聚光透镜二、光圈二以及多元光纤分布板一,光线在气溶胶颗粒中发生散射,从气溶胶颗粒里出射的光线经过聚光透镜二和光圈二后,照射到多元光纤分布板一上,再经过光电倍增和放大管来放大信号,最终将出射光信号传输到电脑中,即为该实验的出射光信号;

光线向下的方向用于测量入射光信号,光线依次通过光纤耦合头一、光纤耦合头二以及多元光纤分布板二,所述光纤耦合头一、光纤耦合头二之间通过传输光纤连接,最后经过光电倍增和放大管来放大信号,最终将入射光信号传输到电脑中,即为该实验的入射光信号。

2.根据权利要求1所述的一种基于光全散射法的颗粒测量系统,其特征在于:所述旋转机构包括笼式立方体框架、旋转轴、把手、固定槽、支架、底座;三角形的支架固定在底座上,所述支架顶端设置一个固定槽,所述固定槽内安装有把手,把手在旋转过程中都在固定槽内运动,不会窜动;所述笼式立方体框架用于安放立方体状的分束镜,所述旋转轴的一端连接笼式立方体框架,另一端与把手垂直相连。

3.根据权利要求2所述的一种基于光全散射法的颗粒测量系统,其特征在于:所述支架和底座间布置有加强筋来增加强度。

4.根据权利要求2所述的一种基于光全散射法的颗粒测量系统,其特征在于:所述笼式立方体框架为镂空状立方体框架,材质为硬质塑料,所述笼式立方体框架的C面为封闭面,封闭面与框架通过螺钉来固定,所述笼式立方体框架内八个角的位置都设有橡胶小圆柱,每一个角的三个面都有一个,用来固定分束镜使其不窜动,同时也保护分束镜不会受到撞击。

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