[实用新型]一种磁通量3D测试平台

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种磁通量3D测试平台。

背景技术

随着技术的发展，电与磁的结合在电子消费品中越来越普遍。而该类电子产品的磁通量的分布通常都是在产品的两侧沿轮廓线分别分布有个和个不同规格的磁体含磁极方向不同及磁量大小不同。因此该类电子产品的磁通量的测量要求在离产品表面圆弧面指定距离0.1mm ±0.3mm垂直于磁体表面针对电子产品的外壳内嵌的磁体的磁通量进行准确的、立体的测量。但目前针对于电子产品磁通量的测量都是采用单极测量法，而磁通量是个矢量，磁力线的分布是发散的，因此单极测量并不能反影出磁通量的真实情况；磁通量是跟位置有关的，传统的方式很难实现0.1mm ±0.3mm垂直于磁体表面的位置要求；同时，传统的方式是以产品的表面为基准，采用接触式机械运动的方式来保证测量距离，其控制精度不高且容易损伤产品的表面。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种结构合理、测量方便、测量精度高的采用X/Y/Z三轴立体移动的磁通量3D测试平台。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括底板以及分别设置在所述底板上的产品固定台、产品A侧X/Z轴测试机构以及产品B侧X/Y/Z轴测试机构，所述产品固定台设置在所述底板的中央，所述产品A侧X/Z轴测试机构以及所述产品B侧X/Y/Z轴测试机构分别设置在所述产品固定台的左右两侧，所述产品A侧X/Z轴测试机构以及所述产品B侧X/Y/Z轴测试机构分别与外部控制器相连接。

所述A侧X/Z轴测试机构包括第一X轴导轨、第一X轴滑块、第一Z轴升降轨、第一Z轴升降块、A侧磁感应探头、第一CCD相机以及第一光源发射灯，所述第一X轴导轨固定设置在所述底板上并置于所述产品固定台的左侧，所述第一X轴滑块活动适配设置在所述第一X轴导轨上，所述第一Z轴升降轨固定设置在所述第一X轴滑块上，所述第一Z轴升降块活动适配设置在所述第一Z轴升降轨上，所述A侧磁感应探头、所述第一CCD相机以及所述第一光源发射灯分别固定设置在所述第一Z轴升降块上，所述A侧磁感应探头以及所述第一CCD相机分别与外部控制器相连接。

所述A侧磁感应探头固定设置在所述第一Z轴升降块的前端面上，所述第一CCD相机以及所述第一光源发射灯分别固定设置在所述第一Z轴升降块的后端面上，所述第一光源发射灯置于所述第一CCD相机的镜头的前方。

所述第一X轴导轨的尾端设置有第一X轴伺服电机，所述第一X轴伺服电机的输出端通过传动链与所述第一X轴滑块相连接，所述第一Z轴升降轨的顶端设置有第一Z轴伺服电机，所述第一Z轴伺服电机的输出端通过传动链与所述第一Z轴升降块相连接。

产品B侧X/Y/Z轴测试机构包括第二X轴导轨、第二X轴滑块、第二Z轴升降轨、第三Z轴升降轨、第二CCD相机、第二光源发射灯、Y轴导轨、激光位移传感器以及B侧磁感应探头，所述第二X轴导轨固定设置在所述底板上并置于所述产品固定台的右侧，所述第二X轴滑块活动适配设置在所述第二X轴导轨上，所述第二Z轴升降轨以及所述第三Z轴升降轨分别固定设置在所述第二X轴滑块上，所述第二CCD相机以及所述第二光源发射灯分别活动设置在所述第二Z轴升降轨上，所述Y轴导轨以及所述激光位移传感器分别活动设置在所述第三Z轴升降轨上，所述B侧磁感应探头活动设置在所述Y轴导轨上。

所述第二Z轴升降轨上活动设置有第二Z轴升降块，所述第二CCD相机以及所述第二光源发射灯分别固定设置在所述第二Z轴升降块上，所述第二光源发射灯置于所述第二CCD相机镜头的前方。

所述第三Z轴升降轨上活动设置有第三Z轴升降块，所述Y轴导轨以及所述激光位移传感器分别固定设置在所述第三Z轴升降块上，所述Y轴导轨上活动设置有Y轴活动块，所述B侧磁感应探头固定设置在所述Y轴活动块上。

所述第二X轴导轨的尾端上设置有第二X轴伺服电机，所述第二X轴伺服电机的输出端通过传动链与所述第二X轴滑块相连接。

所述第二Z轴升降轨的顶端设置有第二Z轴伺服电机，所述第二Z轴伺服电机的输出端通过传动链与所述第二Z轴升降块相连接，所述第二CCD相机以及所述第二Z轴伺服电机分别与外部控制器相连接。