[实用新型]一种电子元器件集群老化测试装置有效
| 申请号： | 201621185394.3 | 申请日： | 2016-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN206132890U | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 黄河 | 申请（专利权）人： | 武汉迅存科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 武汉臻诚专利代理事务所(普通合伙)42233 | 代理人： | 向彬 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖开发*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 集群 老化 测试 装置 | ||
1.一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，包括支撑板组、电路板组和老化板组，其中，
所述支撑板组包括支撑板和多根相互平行的隔条，每根所述隔条均固定安装在所述支撑板的顶端面上；
所述电路板组包括连接器固定板、连接器和电路板，所述连接器固定板与所述支撑板固定连接并且所述连接器固定板上固定安装所述连接器，所述连接器与电路板固定连接，
所述老化板组用于连接待测元器件，其包括托板固定板、老化板托板和金手指，所述托板固定板放置在所述支撑板上并且其位于相邻的两根所述隔条之间，而且相邻的这两根所述隔条分别与所述托板固定板抵接，以用于对所述托板固定板的移动进行导向，所述老化板托板与托板固定板固定连接，所述金手指固定安装在所述老化板托板上并且其插入所述连接器内。
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，所述托板固定板的长度大于每根所述隔条的长度，从而使托板固定板的一端超出所述隔条，以便于推动和拉动所述托板固定板。
3.根据权利要求1所述的一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，所述老化板组设置有多组，并且每组所述老化板组分别位于相邻的两隔条之间。
4.根据权利要求1所述的一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，所述隔条通过螺丝连接在所述支撑板上。
5.根据权利要求1所述的一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，所述老化板托板通过螺丝连接在所述托板固定板上。
6.根据权利要求5所述的一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，所述托板固定板上设置有压铆螺母，所述螺丝连接在所述压铆螺母上，并且所述压铆螺母的顶端面高出所述托板固定板的顶端面，以防止托板固定板与老化板托板接触面积大而造成短路。
7.根据权利要求1所述的一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，所述连接器通过螺丝连接在所述连接器固定板上。
8.根据权利要求1所述的一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，所述隔条远离所述连接器的一端设置有卡槽，所述托板固定板远离所述连接器的一端设置有与所述卡槽配合的卡台。
9.根据权利要求1所述的一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，所述托板固定板远离所述连接器的一端设置有通孔，以便于推动和拉动所述托板固定板。
10.根据权利要求1所述的一种电子元器件集群老化测试装置，其特征在于，所述连接器与电路板固定焊接在一起。
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