[实用新型]一种电子元器件侧边针测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子元器件侧边针测试治具，特别是一种电子元器件侧边针测试治具。

背景技术

随着电子科技的发展，电子元器件越来越倾向于小体积、多功能、高精度的趋势发展，这些变化趋势对电子元器件测试技术也提出了更高的要求，特别是小体积的电子元器件的测试，测试探针能否准确的对上测试点，将会影响测试的效果和测试的速率。比如在作石英晶体振荡器的水晶特性的分析时，由于水晶封装在振荡器内部，且产品本身封装尺寸较小，仅在基座侧面预留两个微型测试点，如何准确对接测试点，并且完好的和测试分析仪器匹配完好，成为行内一大难题，大大阻碍了石英晶体振荡器水晶特性的研究分析，同时，如缺少对石英晶体振荡器内部水晶特性的分析，将会对产品的可靠性产生影响。

发明内容

针对现有技术的不足，本实用新型提一种电子元器件侧边针测试治具。

为实现上述目的，本实用新型通过下述技术方案予以实现：一种电子元器件侧边针测试治具，包括底座、模具台、模具、滑动装置和测试托板，模具台和滑动装置对应安装在底座两端；模具台设置有和模具配合的模具槽，模具固定安装在模具台的模具槽内；滑动装置包括底板，底板上对应设有固定块和滑动块，固定块固定设置在底板一端，滑动块活动安装在底板另一端，固定块和滑动块之间均匀连接有2条以上的弹簧；

测试托板固定在滑动块上，测试托板上设有测试板槽，测试探针一端外露设于测试板槽内，且与测试托板的测试点相对应，另一端穿过测试托板的侧边且能活动伸入至模具的探针槽内，模具上设有和产品相配合的产品槽和测试探针配合的探针槽，将产品放入产品槽中，产品的测试点正好落在探针槽的槽口内。

所述滑动装置的底板上设有螺杆和通过螺杆能上下升降的挡块，所述挡块的升降可以通过挡块上的齿条和螺杆内部的齿轮配合实现，所述挡块为梯形挡块，常态下，挡块突出底板表面，阻挡滑动块向模具台方向运动，此时弹簧处于压缩状态，调节螺杆，可使挡块逐渐向下运动至挡块上表面与底板表面相平，或者挡块上表面低于底板表面，此时，滑动块在弹簧力的作用下向模具台的方向运动。

所述滑动装置接近模具台的一端还设置有限位调节器，所述限位调节器为在挡板上垂直设置调节杆的结构，调节杆可以沿着滑动块运动的方向作横向运动，当测试托板随着滑动块在弹簧的作用下向模具台运动时，可以通过调节杆限制滑动块和测试托板的运动，达到微调的目的。

进一步地，所述模具台上设有定位针，模具上设置有和定位针配合的定位孔，通过定位孔和定位针的配合能够实现模具在模具台上的准确安装，从而保证测试针和产品测试点的精确定位。

进一步地，所述底座1上设置有限位凹槽，模具台和滑动装置的两侧边分别嵌入到

限位凹槽内，从而提高安装精度，所述滑动装置的底板设置有滑行轨道，滑动块底部形状与滑行轨道相互配合，使滑块活动安装在滑行轨道上。

更进一步地，所述模具在产品槽两侧设置有产品取放槽，可方便取放测试产品。

本实用新型的有益效果为：

1、通过弹簧的作用、挡块和螺杆的配合，能够方便地控制测试探针和产品的接触；

2、通过限位调节器的微调作用，不仅可以适应不同尺寸产品的测试，还能保证测试探针能以较好的力度接触产品的测试点，保证测试的准确度；

3、通过模具台和模具的定位针和定位孔的配合，滑动装置的滑行轨道和滑动块的配合，以及底座限位台阶的限位作用，使测试探针的位置精度控制在0.01mm范围内，实现了高精度的电子元器件的测试功能；

4、产品取放槽的设置，可方便取放测试产品。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图，

其中，1-底座，2-模具台，3-模具，4-滑动装置，5-测试托板，6-底板，7-固定块，8-滑动块，9-测试探针，10-限位调节器。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明：

如图1所示，一种电子元器件侧边针测试治具，包括底座1、模具台2、模具3、滑动装置4和测试托板5，模具台2和滑动装置4对应安装在底座1两端；模具台2设置有和模具3配合的模具槽，模具3固定安装在模具台2的模具槽内；滑动装置4包括底板6，底板6上对应设有固定块7和滑动块8，固定块7固定设置在底板6一端，滑动块8活动安装在底板6另一端，固定块7和滑动块8之间均匀连接有2条以上的弹簧；