[实用新型]图像传感器表征参数测试系统

说明书

技术领域

本实用新型是基于集成电路芯片、微机电系统和光学成像多领域交叉开发的一种CMOS图像传感器表征参数测试系统，主要应用于CMOS图像传感器表征参数的测试与分析。

背景技术

随着半导体技术的发展，图像传感器领域发生着巨大变化。CMOS图像传感器的应用日渐成熟。未来几年，市场上CMOS图像传感器的影像产品将达半数以上，并呈上升态势。到时CMOS图像传感器将取代CCD图像传感器成为市场主流。CMOS图像传感器主要有两大优点：1)CMOS图像传感器在价格方面低于CCD图像传感器，降低了硬件成本，产品更容易被普通大众接受。2)芯片结构更容易与其他硅基元器件集成，提升了面积利用率，同时也有效降低了成本。尽管CMOS图像传感器在分辨率和图像质量上较弱于CCD图像传感器，然而其迅猛发展使得技术水平不断逼近CCD图像传感器，并可以满足基本消费电子的需求，如智能手机，监控摄像头等。

而国内对于CMOS图像传感器至关重要的表征参数测试系统，并没有细致的研究，也没有可以硬件实现的相关专利。只有软件平台的测试仿真(题为“基于labview图像传感器测试系统”的中国专利申请No.201410746791.2)和有关电性能的测试(题为“用于CMOS图像传感器电性能的测试系统”的中国专利申请No.200710130071.3)。缺少一个行之有效的表征参数测试的硬件系统，不利于技术人员从器件的角度考虑设计缺陷，也不利于通过对数字信号的处理来弥补缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种图像传感器表征参数测试系统，以解决现有技术中缺少一个行之有效的表征参数测试的硬件系统，不利于技术人员从器件的角度考虑设计缺陷，也不利于通过对数字信号的处理来弥补缺陷的问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种图像传感器表征参数测试系统，包括测试平台系统，光源子系统，图像传感器芯片成像子系统，表征参数分析子系统；其中，

所述测试平台系统为一个金属底板；

所述光源子系统设置于金属底板上，其发出的光照射在所述图像传感器芯片成像子系统上；

所述图像传感器芯片成像子系统包括黑箱，PCB底板，FPGA现场可编辑门阵列，图像传感器和支架；所述支架与PCB底板连接，并置于黑箱中；FPGA现场可编辑门阵列和图像传感器均置于PCB底板上；

所述表征参数分析子系统包括传输线和计算机，所述传输线一端与FPGA现场可编辑门阵列连接，另一端与计算机连接。

所述金属底板上开设有螺旋插槽。

所述图像传感器为CMOS图像传感器。

所述光源子系统为疝灯光源与单色仪，所述疝灯光源的光线出口端对着单色仪的入射端，单色仪的出射端对着黑箱。

所述光源子系统为激光束或LED灯。

所述支架为可升降旋转支架。

本实用新型的有益效果是：本实用新型的图像传感器表征参数测试系统应用方向是图像传感器性能的判定与评估。通过获取图像传感器的表征参数，通过研究人员进行分析，来获得关于图像传感器像素单元设计的具体数据。本实用新型采用氙灯与单色仪作为光源组合产生稳定，光电性能较好的平行光，同时单色仪还可以产生固定波长的光线，进行如量子效率等需要不同单色光照射的表征参数测量。采用黑箱可以减弱环境光线对图像传感器的影响，减弱墙面漫反射的影响，使得获得的数据更为真实可靠。相较于只有软件环境模拟仿真的测试，本实用新型更能真实满足图像传感器测试的需求，有利于研究人员对图像传感器的像素单元设计进行研究与分析。本实用新型的图像传感器表征参数测试系统还具有高精度，易操作的特点。

附图说明

图1是本实用新型的一个实施例的总体结构框图；

图2是本实用新型的一个实施例的图像传感器芯片成像系统框图。

具体实施方式

下面结合附图对实用新型的技术方案进行详细的说明。

如图1所示为一种图像传感器表征参数测试系统108，包括测试平台系统，光源子系统，图像传感器芯片成像子系统，表征参数分析子系统。

测试平台系统包括金属底板107，金属底板107上开设有螺旋插槽105，螺旋插槽105用于固定金属板107上的仪器。

光源子系统设置于金属底板107上，包括光源102与单色仪101，光源102的光线出口端对着单色仪101的入射端，单色仪101的出射端对着黑箱103。此外光源也可以采用激光束或者LED灯。