[实用新型]一种落球测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子产品测试装置，尤其涉及一种用以测试电子产品的耐冲击性能的落球测试装置。

背景技术

目前，智能手机及平板电脑用触摸屏均存在跌落或者撞击的危险。为了测试触摸屏产品的结构强度，厂商在出货前通常会对触摸屏产品进行撞击测试。目前一般的做法是以不同重量的落球，从不同高度下落并撞击产品，从而得到相关的撞击数据以做判断，具有此类功能的测试实验通常可称为落球测试，其可以应用于手机、平板电脑、液晶显示屏等电子消费产品的盖板玻璃、玻璃镜片及树脂镜片的抗冲击测试。

如图1所示，现有的落球试验装置包括样品台110’、测试架120’和落球140’，所述测试架120’包括设置于样品台110’上的支撑杆121’和连接杆122’，所述连接杆122’与支撑杆121’相互交叉垂直设置，所述连接杆122’远离支撑杆121’一侧的端部设置电磁铁130’，所述电磁铁130’上有用于吸附固定落球140’的凹槽(图中未示出)，所述样品台110’上放置待测试样品150’，在所述待测试样品150’上还设置了缓冲块160’，缓冲块160’可以起保护待测试样品150’的作用，同时为了防止缓冲块160’在测试中移动，在现有技术中通常使用胶带将缓冲块160’固定在待测试样品150’上。

现有的落球试验装置由于只有连接杆122’在竖直方向上的高度调节功能，当需要对待测试样品某一具体点位进行测试时，此时只能手动移动待测试样品，依靠目测进行落球的中心点与待测试样品的具体的待测试点之间的粗略对位，然而，此种操作方式往往存在误差，落球中心点往往不能精准的与待测试样品的具体要测试的点位吻合，从而使得落球试验的实际测试点位不是需要的测试点，不能达到想要的测试结果。另外在人员操作过程中球体跌落后会出现二次撞击，二次撞击可能对待测试样品未保护区域造成损毁，同时可能影响待测试样品的测试准确性及测试安全性。

有鉴于此，本实用新型申请人针对上述落球测试装置中未臻完善所导致的诸多缺失及不便，而深入构思，且积极研究改良试做而开发设计出本创作。

实用新型内容

本实用新型的目的在于公开因此，针对以上不足，需要一种能够针对不同样品进行落球测试的装置。

本实用新型旨在解决现有技术需依靠目测进行落球的中心点与待测试样品的具体的待测试点之间的对位，这样操作方式所存在的误差，造成的落球中心点不能精准的与待测试样品的具体要测试的点位吻合，从而使得落球试验的实际测试点位不是需要的测试点，不能达到想要的测试结果。另外在人员操作过程中球体跌落后会出现二次撞击，二次冲撞可能对待测试样品造成损毁，同时可能影响待测试样品的测试准确性及测试安全性等问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型的解决方案是：公开一种落球测试装置，其中，包括测试底座、支架、落球装置、落球复位机构以及控制系统；其中，支架设置在测试底座上；落球复位机构设置在支架上，落球复位机构包括电磁控制部；电磁控制部的下表面设有吸附落球装置的凹槽；测试底座上设置震动传感器；测试底座的震动传感器和落球复位机构的电磁控制部分别与控制系统连接。

优选地，落球装置包括依次连接的铁块、吊绳和落球，铁块的形状与电磁控制部下表面的凹槽的形状一致。

优选地，测试底座包括底板和围绕于底板四周的固定框，固定框的边框内侧面设置导轨，固定框内还包括两个平行设置的调节杆；调节杆的两端沿所述导轨滑动设置。

优选地，支架包括垂直连接于固定框两侧的竖直导杆，两侧的竖直导杆顶部之间设置顶部横梁；支架的竖直导杆沿固定框的导轨滑动设置。

优选地，落球复位机构的电磁控制部设置在支架的顶部横梁的下方。

优选地，落球复位机构还包括落球升降装置，落球升降装置包括依次连接的伺服电机和移动横杆，伺服电机设置在支架的顶部横梁上，伺服电机与所述控制系统连接；伺服电机通过轨道控制移动横杆的升降，移动横杆对应落球装置的吊绳的位置设置通孔。

优选地，落球复位机构的移动横杆的通孔的尺寸小于落球装置的铁块的尺寸。

优选地，落球测试装置还包括缓冲装置，缓冲装置包括缓冲块和缓冲带，缓冲块通过缓冲带与支架连接。

优选地，落球装置的落球为钢球或铁球。

优选地，测试底座的固定框的边框上表面设置刻度尺。