[实用新型]一种用于石英晶体测试头的防带料装置有效

专利信息
申请号: 201621112447.9 申请日: 2016-10-10
公开(公告)号: CN206146975U 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 陈凯 申请(专利权)人: 广东惠伦晶体科技股份有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 东莞市华南专利商标事务所有限公司44215 代理人: 肖冬
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 石英 晶体 测试 防带料 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及石英晶体的测试设备技术领域,尤其是指一种用于石英晶体测试头的防带料装置。

背景技术

石英晶体谐振器又称为石英晶体,俗称晶振,主要材料是水晶,成分SiO2,它不仅是较好的光学材料,而且是重要的压电材料。随着科技发展,生活水平的提高,对电子产品不断追求质量轻、体积小、外观美等优点的产品。而石英晶体谐振器的压电效应能够为电子产品提供稳定的时钟信号。为满足现工业生产要求,晶体自身体积也不断缩小,才能与智能化的电子产品完美结合。石英晶体在智能电子领域的作用如:1.手机的通话、摄像、卫星定位等功能 ;2.汽车的引擎控制;3.电子手表的计时功能等。从中体现出晶体扮演着不可缺少的重要角色。

在测试过程中,测试头会带动探针上升和下降,探针在上升过程中往往会将物料一并带起,这样不利于下次的测试,影响探针的寿命,同时物料打乱后散落在装置内,不利于装置的稳定性,增加装置的故障率。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术的问题提供一种用于石英晶体测试头的防带料装置,可以防止探针带料,延长探针的使用寿命,保证装置整体稳定性,提高生产效率,节省成本。

为了解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案:

本实用新型提供的一种用于石英晶体测试头的防带料装置,包括活动外框以及安装在活动外框上的集成测试板,所述集成测试板设置有与其电连接的探针,所述活动外框内安装有内框结构,所述内框结构与活动外框活动连接,所述内框结构设置有伸出活动外框的延伸部,所述延伸部上设置有用于防止探针带料的针孔部,当测试时,所述活动外框带动探针穿过针孔部后对产品进行测试。

其中,所述集成测试板、活动外框和内框结构上分别设置有第一螺孔、第二螺孔和导向孔,所述集成测试板通过螺丝与活动外框锁合,所述螺丝上设置有用于与内框结构滑动配合的滑槽,所述活动外框通过螺丝的滑槽与内框结构活动连接。

其中,所述内框结构与所述活动外框之间设置有用于使活动外框复位的复位弹簧。

进一步的,所述复位弹簧套设于螺丝。

其中,所述导向孔内设置有用于与滑槽滑动配合的滚球,当活动外框动作时,内框结构沿着螺丝的滑槽做相对的上下运动。

其中,所述滑槽上均匀间隔设置有若干个用于定位滚球的凸条。

进一步的,相邻凸条之间的间隔为滚球的直径长度。

其中,所述针孔部内环设有用于定位探针穿过针孔部的方位的定位柱。

其中,所述定位柱的顶端设置有凹槽,所述凹槽上设置有用于与探针配合的滚珠,当探针穿过针孔部时,所述滚珠与探针滑动连接。

其中,所述针孔部的上下两端均设置有用于防止探针带料的挡片,所述挡片上设置有供探针穿过的通孔,所述通孔的直径大小与探针的截面直径相等。

本实用新型的有益效果:

本实用新型提供的一种用于石英晶体测试头的防带料装置,结构简单、设计合理,有效防止探针带料,防止不良产品流出,延长探针的使用寿命,保证装置整体稳定性,降低装置的故障率,提高生产效率,节省成本。

附图说明

图1为本实用新型的一种用于石英晶体测试头的防带料装置的结构示意图。

图2为本实用新型的一种用于石英晶体测试头的防带料装置的探针测试时的结构示意图。

图3为本实用新型的固定凸块与固定凹槽的结构示意图。

图4为本实用新型的内框结构与螺丝配合的结构示意图。

图5为本实用新型的螺丝、滑槽、凸条、凹坑的结构示意图。

图6为本实用新型的针孔部的截面结构示意图。

图7为本实用新型的针孔部的结构示意图。

在图1至图7中的附图标记包括:

1—活动外框 2—集成测试板3—探针

4—内框结构 5—延伸部6—针孔部

7—螺丝 8—复位弹簧9—滚球

10—滑槽11—凸条 12—定位柱

13—滚珠14—挡片 15—通孔

16—螺头17—螺杆 18—固定凸块

19—固定凹槽20—凹坑 21—第一螺孔

22—第二螺孔23—导向孔。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解,下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明,实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。以下结合附图1-7对本实用新型进行详细的描述。

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