[实用新型]一种ADC动态测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及ADC动态性能测试控制领域，尤指一种ADC动态测试系统。

背景技术

随着工、农业的发展，多路数据采集势必将得到越来越多的应用，为适应这一趋势，作这方面的研究就显得十分重要。总之，不论在哪个应用领域中，数据采集与处理将直接影响工作效率和所取得的经济效益。数据采集系统，从严格的意义上来说，应该是用计算机控制的多路数据自动检测或巡回检测，并且能够对数据实行存储、处理、分析计算以及从检测的数据中提取可用的信息，供显示、记录、打印或描绘的系统。

在数据采集系统中，ADC(Analog-to-Digital Converter)即模拟/数字转换器是模拟量与数字量接口的关键部件。现实世界中的信号，如温度、声音、无线电波、或者图像等，都是模拟信号，需要转换成容易储存、进行编码、压缩、或滤波等处理的数字形式，模拟/数字转换器正是为此而诞生，发挥出不可替代的作用。目前，随着数字处理技术的飞速发展，在通讯、消费电器、工业与医疗仪器以及军工产品中，对高速ADC的需求越来越多。高速ADC的动态测试是进行ADC研究、新产品试制和开发，以及ADC生产与应用中不可缺少的一个重要手段。ADC的性能好坏直接影响整个系统指标的高低和性能好坏，从而使得ADC的性能测试变得十分重要。高速、高精度、低功耗、多通道是ADC未来的发展趋势。对于高速ADC来说，其动态特性格外重要，动态特性包括很多，如信噪比(SNR)、信噪谐波比(SINAD)、有效位数(ENOB)、总谐波失真(THD)等。因而精确地测试ADC的动态指标成为非常有意义的工作。对于实时信号处理机而言，ADC模块单元的大动态范围、高信噪比等显得尤为重要，这些性能将直接影响到后续的信号处理和检测。因此利用实时信号处理机本身的硬件平台，通过软件编程来实现对ADC的测试是一种高效、高精度的方法。

在现有技术中，目前ADC测试的方法主要分为静态测试和动态测试两种。其中静态测试可以利用主机和DAC(数字模拟转换器)配合ADC 单次转换来保证测试中的每个LSB的变化。其中动态测试目前基本都是利用函数信号发生器来产生正弦波，通过ADC采集正弦波的值进行测试，采用是用逻辑分析仪进行数据抓取。但是在现有技术存在以下两个问题：

1、ADC静态测试不能反映ADC的动态特性，而且随着ADC的采集速度越来越快，不能实时抓取采集的数据。

2、ADC动态测试利用逻辑分析仪进行数据抓取，分析数据非常费时费力，很容易丢数据。

3、高速ADC速度快导致数据实时存储困难，需要很多管脚的问题。

因而，如何解决现有ADC测试中高速ADC速度快导致数据实时存储困难的问题和需要很多管脚的问题，是目前本领域技术人员亟待解决的技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种ADC动态测试系统，实现解决现有ADC测试中高速ADC速度快导致数据实时存储困难的问题和需要很多管脚的问题。为了达到上述目的，本实用新型提供的技术方案如下：

一种ADC动态测试系统包括：ADC装置、测试控制装置和SRAM存储装置；其中，

所述ADC装置与测试控制装置通讯连接，接收模拟测试信号，根据预设的采样频率采样抓取所述模拟测试信号得到待测试数据，将所述待测试数据发送至所述测试控制装置；

所述测试控制装置与所述SRAM存储装置通讯连接，接收所述ADC装置发送的所述待测试数据，对所述待测试数据进行测试得到测试结果数据，将所述测试结果数据进行转换得到转换数据，将所述转换数据发送至所述SRAM存储装置，并发送控制指令至所述SRAM存储装置；

所述SRAM存储装置接收所述测试控制装置发送的所述转换数据，并存储所述转换数据，根据所述控制指令将存储的所述转换数据发送至所述测试控制装置。

本实用新型利用MCU(Micro Controller Unit，中文名称为微控制单元)和 SRAM(Static Random Access Memory，即静态随机存取存储器，它是一种具有静止存取功能的内存，不需要刷新电路即能保存它内部存储的数据)可构成简便且准确的测试系统，在ADC电路的后端利用SRAM将输出的测试结果数据采集保存起来，能够实现ADC高速采集数据并同时实时存储数据的目的，又不需要很多管脚，可以很好的解决管脚少且进行高速ADC动态测试以及数据存储问题。

进一步，所述ADC装置包括：采样器、转换器；