[实用新型]一种微带连接器高频性能的测试结构有效
| 申请号： | 201621093375.8 | 申请日： | 2016-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN206161703U | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 王文娟;严乐;王晓艳;贺小宁 | 申请（专利权）人： | 西安艾力特电子实业有限公司 |
| 主分类号： | G01R11/00 | 分类号： | G01R11/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 710065 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 微带 连接器 高频 性能 测试 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种微带连接器高频性能的测试结构，其特征在于，包括两个微带连接器主体(1)，微带连接器主体(1)的中部设置有楔形孔(2)，楔形孔(2)内插有插针(3)，两个微带连接器主体(1)通过连接法兰(4)紧固连接起来。
2.根据权利要求1所述的微带连接器高频性能的测试结构，其特征在于，所述楔形孔(2)位于微带连接器主体(1)内侧的一端开口大于楔形孔(2)位于微带连接器主体(1)边缘的一端。
3.根据权利要求1所述的微带连接器高频性能的测试结构，其特征在于，所述插针(3)的两端均为球面状。
4.根据权利要求1所述的微带连接器高频性能的测试结构，其特征在于，所述两个微带连接器主体(1)相接触的一面设置有防水层。
5.根据权利要求1所述的微带连接器高频性能的测试结构，其特征在于，所述连接法兰(4)设置在两个微带连接器主体(1)的上部和下部。
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