[实用新型]集成芯片故障检测装置有效

专利信息
申请号: 201621043679.3 申请日: 2016-09-06
公开(公告)号: CN206725713U 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 王小雨;苏娜;刘宁 申请(专利权)人: 内蒙古电子信息职业技术学院
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京合智同创知识产权代理有限公司11545 代理人: 李杰
地址: 010070 内蒙*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要:
搜索关键词: 集成 芯片 故障 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种集成芯片故障检测装置,其特征在于,包括:单片机、输入模块、输出模块,

输入待测芯片型号的所述输入模块与所述单片机输入接口连接;

所述单片机与所述待测芯片连接,根据所述待测芯片的型号输出对应的测试样本至所述待测芯片,并根据得到的所述待测芯片的输出结果判断所述待测芯片是否损坏;

所述输入模块还用于输入控制指令,当所述控制指令包括停止检测控制指令时,所述停止检测控制指令指示正在检测所述待测芯片的所述单片机中止检测;

输出判断结果的所述输出模块与所述单片机的输出接口连接,所述输出模块为电声器件,或所述输出模块包括显示器和扬声器;

所述集成芯片故障检测装置还包括:键盘显示接口芯片,所述输入模块与所述输出模块均通过所述键盘显示接口芯片与所述单片机连接。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:可编程输入输出接口,所述待测芯片通过所述可编程输入输出接口与所述单片机连接。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:存储不同所述待测芯片的所述测试样本和标准结果的存储器。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述单片机根据所述待测芯片型号,在所述存储器中调用不同的所述测试样本;

所述待测芯片根据所述测试样本运行得到的输出结果传输至所述单片机;

所述单片机调用所述存储器内对应的所述标准结果,并将所述标准结果与输出结果进行比对,如比对结果不同,则所述待测芯片损坏,反之则所述待测芯片未损坏。

5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:芯片插座,所述待测芯片插入所述芯片插座后与所述单片机连接。

6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述输入模块输入所述单片机的控制指令。

7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:为所述集成芯片的故障检测装置、所述待测芯片供电的电源。

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