[实用新型]一种熔丝存储的检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及半导体集成电路领域，尤其涉及对熔丝存储的检测装置。

背景技术

芯片制造完成后，往往需要对其性能进行独立地微调以达到较好的性能指标和一致性的要求。此外，对于应用场景较多的芯片很可能需要针对具体应用场景进一步调整优化其部分功能以达到更好的工作效果。

为了保证控制调整的状态值能够长期保存，在电路设计上常用的一种方法便是采用基于熔丝的存储电路以实现对调整信息的存储。在对调整信息存储完成后，即在对相关熔丝完成烧写后，在每次芯片上电时都会由检测电路检测熔丝熔断与否的状态，通过熔丝熔断与否状态得到所存储的调整状态值。

然而，现有的检测电路检测熔丝熔断与否状态，功耗过大。

发明内容

本实用信息实施例提供了一种熔丝存储的检测装置，以实现低功耗检测熔丝存储装置所存储的信息。

一方面，本实用新型实施例提供了一种熔丝存储的检测装置，该装置包括熔丝存储电路、熔丝偏置电路、比较器。熔丝存储电路包括熔丝。所述熔丝存储电路与所述熔丝偏置电路相连，使得所述熔丝与所述熔丝偏置电路形成电流通路，并在所述熔丝存储电路与所述熔丝偏置电路之间的连接点上形成检测电压信号。所述比较器的第一输入端连接至所述熔丝存储电路与所述熔丝偏置电路之间的连接点，所述比较器的第二输入端连接至参考电压，以便根据所述比较器的比较结果确定所述熔丝是否熔断的状态，从而确定所述熔丝存储电路所存储的信息。

在一个示例中，所述熔丝偏置电路包括电流源，所述电流源与所述比较器相连，所述电流源为具有小电流值的电流源，以便所述电流通路的电流小。

在一个示例中，所述熔丝偏置电路包括电阻，所述电阻与所述比较器相连，所述电阻为具有大电阻值的电阻，以便所述电流通路的电流小。

在一个示例中，所述比较器的第一输入端为所述比较器的反相输入端，所述比较器的第二输入端为所述比较器的同相输入端，且所述比较器为具有失调、迟滞功能的比较器。

在一个示例中，所述装置包括逻辑控制电路，所述熔丝存储电路包括电压源、第一开关。所述熔丝的一端与所述电压源相连，另一端与所述第一开关相连。所述第一开关与所述逻辑控制电路相连，以接收来自所述逻辑控制电路的熔丝检测选通信号，从而在所述熔丝、所述第一开关、所述熔丝偏置电路上形成电流通路。

在一个示例中，所述装置包括多个所述熔丝存储电路，且所述多个熔丝存储电路并列形成存储单元阵列，所述存储单元阵列共同连接至所述比较器与熔丝偏置电路的连接点。

在一个示例中，所述熔丝存储电路还包括烧写电路；所述烧写电路一端与所述熔丝相连，另一端接地，以控制对所述熔丝的烧写。

在一个示例中，所述烧写电路为烧写器或者到地导通开关。

在一个示例中，所述熔丝偏置电路一端与所述比较器相连，所述熔丝偏置电路另一端接地。

在一个示例中，所述比较器的输出端为所述熔丝存储检测装置的输出端。

相较于现有技术，本实用新型实施例提供的熔丝存储的检测装置能够低功耗地检测熔丝存储电路所存储的信息，本实用新型实施例还进一步地降低了芯片面积。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面附图中反映的仅仅是本实用新型的一部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得本实用新型的其他实施方式。而所有这些实施例或实施方式都在本实用新型的保护范围之内。

图1为本实用新型实施例的一种熔丝存储检测装置的应用场景示意图；

图2为本实用新型实施例的一种熔丝存储电路示意图；

图3为本实用新型实施例的一种存储信息检测单元示意图；

图4为本实用新型实施例的一种将电流源作为熔丝偏置电路的存储信息检测单元示意图；

图5为本实用新型实施例的一种将电阻作为熔丝偏置电路的存储信息检测单元示意图；

图6为本实用新型实施例的一种将电流源作为熔丝偏置电路的熔丝存储检测装置示意图；

图7为本实用新型实施例的一种将电阻作为熔丝偏置电路的熔丝存储检测装置示意图；

图8为本实用新型实施例的一种熔丝存储检测方法流程图。

具体实施方式