[实用新型]集成电路直流测试手动探针装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电流测试装置技术领域，特别是涉及一种集成电路直流测试手动探针装置。

背景技术

当前，集成电路的体积越来越小、功能越来越多，更高的集成度导致芯片面积越来越小，所需的测试要求探针越来越细，各个探针间距越来越近，对集成电路测试，尤其是研发阶段大量应用的手动测试、在片测试提出新的挑战。

与全自动测试相比，手动测试无需购买探针卡，无需进行测试编程，成本更低，测试更换方便，但测试时间较长，所以手动测试适合应用于产品研发阶段。在实际的手动探针测试过程中存在以下缺陷：由于探针越来越细，一旦操作不慎引起轻微碰撞即会损伤针尖，造成测试误差；手动测试一般用于研发阶段，所研发的产品尺寸不定，而探针针头伸缩量程一般较小，需移动探针基座，而现有的测试装置探针基座通常都是固定不动的。

实用新型内容

本实用新型主要解决的技术问题是提供一种集成电路直流测试手动探针装置，能够根据测试需要固定或移动探针基座。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种集成电路直流测试手动探针装置，包括探针台和探针基座，所述探针基座的一端设有探针，所述探针台上设有呈矩阵排列的多个固定孔，所述探针基座的底面设有与所述多个固定孔一一对应的安装孔，每一所述安装孔内设有与所述固定孔相适配的固定柱，所述探针基座内设有弹性部件，所述探针基座上设有驱动所述弹性部件的伸缩按钮，当所述伸缩按钮被按下时，所述弹性部件驱动所述固定柱从所述安装孔伸出并伸入所述固定孔中，当所述伸缩按钮复位时，所述弹性部件驱动所述固定柱缩回所述安装孔内。

优选地，所述探针基座内设有手动驱动单元，所述手动驱动单元用于驱动所述探针前后、左右或上下移动。

优选地，相邻两个固定孔之间的间距为0.5～5cm，所述固定孔的深度为20～50mm。

优选地，所述固定孔的形状为正方形，所述固定孔的边长为0.5～5cm。

优选地，所述固定孔的形状为圆形，所述固定孔的直径为0.5～5cm。

区别于现有技术的情况，本实用新型的有益效果是：通过在探针台设置呈矩阵排列的多个固定孔，探针基座置于探针台上，探针基座的底面具有与固定孔相适配的固定柱，探针基座内设有弹性部件，探针基座上设有伸缩按钮，伸缩按钮被按下时，固定柱伸入固定孔中，探针基座被固定，伸缩按钮复位时，固定柱缩回，探针基座可在探针台上移动，从而能够根据测试需要固定或移动探针基座，可以便于探针的移动，探针不易损坏。

附图说明

图1是本实用新型实施例集成电路直流测试手动探针装置的结构示意图。

图2是本实用新型实施例集成电路直流测试手动探针装置的探针台的俯视示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

一并参见图1和图2，本实施例的集成电路直流测试手动探针装置包括探针台1和探针基座2，探针基座2的一端设有探针21，探针台1上设有呈矩阵排列的多个固定孔11，探针基座2的底面设有与多个固定孔11一一对应的安装孔22，每一安装孔22内设有与固定孔11相适配的固定柱23，探针基座2内设有弹性部件3，探针基座2上设有驱动弹性部件的伸缩按钮31，当伸缩按钮31被按下时，弹性部件3驱动固定柱23从安装孔22伸出并伸入固定孔11中，当伸缩按钮31复位时，弹性部件3驱动固定柱23缩回安装孔22内。在本实施例中，伸缩按钮31可以采用现有技术中的自锁式按钮开关实现，即伸缩按钮31按下后，没有外力作用也能保持按下状态，当伸缩按钮31被再次按下后，伸缩按钮31复位。

在本实施例中，探针基座2内设有手动驱动单元4，手动驱动单元3用于驱动探针21前后、左右或上下移动。

固定孔11主要用于固定固定柱23，在一个具体应用中，相邻两个固定孔11之间的间距为0.5～5cm，固定孔11的深度为20～50mm。固定孔11的形状可以为正方形或圆形，相应地，固定柱23也为正方形或圆形，固定孔11的形状为正方形时，固定孔11的边长为0.5～5cm，固定孔11的形状为圆形时，固定孔11的直径为0.5～5cm。