[实用新型]可调式基质辅助激光解析离子源进出样装置有效
申请号: | 201620704821.8 | 申请日: | 2016-07-06 |
公开(公告)号: | CN205810762U | 公开(公告)日: | 2016-12-14 |
发明(设计)人: | 吴鹏鹏;蔡克亚;张彤;宋家玉;李传华;肖永东;易玲;张瑞峰;刘伟伟;刘晓莉;王超;刘聪;吴学炜 | 申请(专利权)人: | 安图实验仪器(郑州)有限公司 |
主分类号: | H01J49/04 | 分类号: | H01J49/04 |
代理公司: | 郑州异开专利事务所(普通合伙)41114 | 代理人: | 韩华 |
地址: | 450016 河南省*** | 国省代码: | 河南;41 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 调式 基质 辅助 激光 解析 离子源 进出 装置 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安图实验仪器(郑州)有限公司,未经安图实验仪器(郑州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201620704821.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于解析离子源进样装置的XY移动平台
- 下一篇:一种大功率陶瓷金卤灯