[实用新型]一种发光二极管外延片测试系统有效
| 申请号： | 201620202728.7 | 申请日： | 2016-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN205449132U | 公开（公告）日： | 2016-08-10 |
| 发明（设计）人： | 潘伟;蔡园园;杨碧兰;周启伦;蔡如腾 | 申请（专利权）人： | 厦门市三安光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 361009 福建省厦*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 发光二极管 外延 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门市三安光电科技有限公司，未经厦门市三安光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201620202728.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种复合探头装置
- 下一篇：一种用于防止传感器松动的磁座
