[实用新型]用于光模块的多通道并行测试系统

说明书

技术领域

本实用新型属于光通信域，具体涉及一种用于光模块的多通道并行测试系统。

背景技术

随着光通信技术及物联网的迅猛发展，光模块作为网络互联互通的核心部件，在越来越多的领域得到了大规模应用。光模块中使用的关键物料-光电芯片的性能参数受温度的影响较大，为了检验光模块的性能在高低温环境下是否满足要求，一般会对光模块进行高低温性能测试。在现有的生产及科研测试中，对光模块进行温度测试所采用的环境设备一般是如今大量使用的温循箱。进行温度测试时，在温循箱中放置光模块，光模块的光电参数测试待温度稳定一段时间后进行，测试完成后，打开箱门更新下一只光模块，重新等待温度稳定一段时间后进行光电性能测试。在待测试的光模块数量较少时，该方法还可以适用。当光模块数量较多时，该方法将难以完成测试任务。在进行模块温度测试时，对模块进行性能测试所花费的时间较少，绝大部分时间都花费在温循箱箱内温度的稳定等待上。如果在不打开箱门的前提下单次进行多只模块的性能测试，则相当于大大减少了每只模块的温度等待时间，可以大大加快测试速度，满足生产和科研的要求。

发明内容

本实用新型的目的就是针对上述技术的不足，提供一种能有效提高测试效率的用于光模块的多通道并行测试系统。

为实现上述目的，本实用新型所设计的用于光模块的多通道并行测试系统，包括

待测光模块评估板：包括复用器、与复用器接口相连的多路待测光模块；

光源：通过光开关与待测光模块连接，并为各个待测光模块提供光信号，光源与光开关之间设置有光衰减器，光开关与各个待测光模块之间通过选路开关导通；

误码仪：误码仪发出光源电信号驱动光源发出光信号，并且接收复用器发出的电信号。

进一步地，所述光衰减器与所述光开关之间设置有光分路器，所述光分路器的一个输出端与光示波器的一个输入端相连，所述误码仪的输出端与所述光示波器的另一个输入端相连。

进一步地，所述误码仪发出的伪随机码电信号通过扇出器分成多路独立的电信号给各个待测光模块。

进一步地，所述光开关为1：8或1:16双向可逆光开关。

进一步地，所述光分路器为1:2双向可逆光分路器。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：多个待测光模块在同一温度环境和待测光模块评估板上进行测试，测试结果一致性好，极大减少开关温循箱的次数，加快了待测光模块温度测试速度；并且一次性完成多各待测光模块的发射和接收测试工作，中途不需要换纤动作，大大提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型用于光模块的多通道并行测试系统的结构框图。

其中：待测光模块评估板11、光源1、光衰减器2、光分路器3、光示波器4、误码仪5、光开关6、选路开关7、复用器8、待测光模块9、扇出器10、待测光模块评估板11。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。

如图1为用于光模块的多通道并行测试系统，包括待测光模块评估板11、光源1、光衰减器2、光示波器4、误码仪5、光分路器3、选路开关7及光开关6，其中：待测光模块评估板11包括复用器8及与复用器8接口相连的多路待测光模块9。

误码仪5的三个输出端分别与光源1、光示波器4的输入端及扇出器10的输入端相连，光源1依次通过光衰减器2、光分路器4、光开关6与待测光模块9相连，光开关6与各个待测光模块9之间通过选路开关7导通，光分路器3的另一个输出端与光示波器4的另一个输入端相连，扇出器10的输出端分别与各个待测光模块9相连，复用器8的输出端与误码仪5的输入端相连。本实施例中光开关6为1：8或1:16双向可逆光开关6，根据一次需要测试的待测光模块9数量选择合适的光开关6，进行测试系统组合时，使光开关6和复用器8的路数保持一致即可；光分路器3为1:2双向可逆光分路器3。