[实用新型]磁粉检测测深槽型试块有效
| 申请号: | 201620079343.6 | 申请日: | 2016-01-27 |
| 公开(公告)号: | CN205353000U | 公开(公告)日: | 2016-06-29 |
| 发明(设计)人: | 薛永盛;房伟峰;康华魁;李玉军;薛富林;赵春娟 | 申请(专利权)人: | 薛永盛 |
| 主分类号: | G01N27/84 | 分类号: | G01N27/84 |
| 代理公司: | 郑州立格知识产权代理有限公司 41126 | 代理人: | 崔卫琴 |
| 地址: | 450016 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 检测 测深 槽型试块 | ||
技术领域
本实用新型属于磁粉检测用试块领域,具体涉及一种磁粉检测测深槽型试块。
背景技术
TOFD检测由于技术的特殊性,在工件的上、下两个表面会存在盲区。与下表面盲区相比,上表面盲区范围更大,对检测可靠性的影响也更大。在实际TOFD检测中对上下表面盲区可辅以磁粉检测,来减少上下表面盲区。
磁粉检测适用于检测铁磁性材料表面和近表面缺陷;其检测范围为:1、铁镍基铁磁性材料、未加工的原材料(如钢坯);2、加工的半成品、成品件及在役与使用过的工件;3、管材、棒材、板材、形材和锻钢件铸钢件及焊接件;4、工件表面和近表面的延伸方向与磁力线方向尽量垂直的缺陷,在此条件下其不适用于检测延伸方向与磁力线方向夹角小于20度的缺陷;5、工件表面和近表面较小的缺陷,在此条件下不适用于检测浅而宽的缺陷。
目前磁粉检测的时候需要使用磁粉试块的缺点为:无法确定检测深度,故无法的得出缺陷的位置。
实用新型内容
本实用新型旨在提供一种使用效果好的磁粉检测测深槽型试块。
为解决上述技术问题,本实用新型提供了如下技术方案:磁粉检测测深槽型试块,试块上分布有数个相对试块垂直设置的线切割槽,数个线切割槽均匀分布于试块的水平对称轴和垂直对称轴上,且数个线切割槽的位置相对于试块的中心点中心对称;每两个线切割槽之间的深度差最小为0.4~0.6mm;线切割槽的最小深度为2.4~2.6mm,线切割槽的深度与试块的高度差至少为0.9~1.1mm。
所述试块呈长方体状,试块横截面呈正方形;沿试块的水平对称轴和垂直对称轴,从距离试块中心点最近的4个线切割槽到试块外侧的方向,线切割槽的深度依次增加或者依次减小,相邻线切割槽之间的深度差为0.8~1.2mm;距离试块的中心点最近的4个线切割槽的深度分别为2.4~2.6mm、2.9~3.1mm、比试块高度小0.9~1.1mm、比试块高度小1.4~1.6mm。
距离试块中心点最近的4个线切割槽与试块中心点之间的距离均为6~10mm,相邻线切割槽之间的距离为4~6mm。
线切割槽的宽度均为0.4~0.6mm。
沿试块中心点到试块外侧的方向相邻线切割槽的长度差最多为2mm。
距离试块中心点最近的4个线切割槽的长度为5~7mm。
所述试块长度为200mm,宽度为200mm,高度为8mm;
试块上共有20个线切割槽,距离试块中心点最近的4个线切割槽的深度分别为2.5mm、3mm、7mm、6.5mm;
在试块的水平对称轴上,从深度为2.5mm的线切割槽起到试块外侧的方向,线切割槽的深度分别为2.5mm、3.5mm、4.5mm、5.5mm、6.5mm;长度分别为6mm、8mm、10mm、10mm、10mm;
在试块的水平对称轴上,从深度为7mm的线切割槽起到试块外侧的方向,线切割槽的深度分别为7mm、6mm、5mm、4mm、3mm;长度分别为6mm、8mm、10mm、10mm、10mm;
在试块的垂直对称轴上,从深度为6.5mm的线切割槽起到试块外侧的方向,线切割槽的深度分别为6.5mm、5.5mm、4.5mm、3.5mm、2.5mm;长度分别为6mm、8mm、10mm、10mm、10mm;
在试块的垂直对称轴上,从深度为3mm的线切割槽起到试块外侧的方向,线切割槽的深度分别为3mm、4mm、5mm、6mm、7mm;长度分别为6mm、8mm、10mm、10mm、10mm。
通过以上技术方案,本实用新型的有益效果为:
1.线切割槽相对于试块垂直设置,从而准确得出线切割槽的深度;每两个线切割槽之间的深度差最小为0.4~0.6mm或为0.4~0.6mm的整数倍,从而使得试块上分布足够的线切割槽,提高检测深度的精度;线切割槽的最深深度比试块高度小0.9~1.1mm,避免线切割槽的深度与试块高度之差过小造成线切割槽穿透试块的现象。
2.线切割槽在水平对称轴和垂直对称轴上垂直分布,从而提高不同磁化方向对缺陷的检出率;
3.相邻线切割槽之间的距离为4~6mm,避免了在线切割槽之间缺陷磁痕显示相互干扰;
4.线切割槽的宽度均为0.4~0.6mm,仅通过一次检测即可以检测到该线切割槽,从而提高检测灵敏度;
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