[实用新型]液晶面板点灯测试装置

说明书

技术领域

本实用新型属于液晶面板测试技术领域，具体涉及一种液晶面板点灯测试 装置。

背景技术

液晶面板在正式出厂前，均需要进行点灯测试，从而检测液晶面板是否存 在坏点。传统的液晶面板点灯测试装置，普遍具有成本高、结构复杂、易出现 故障、维修率极高以及使用寿命短等不足，如何有效解决上述问题，具有重要 意义。

实用新型内容

针对现有技术存在的缺陷，本实用新型提供一种液晶面板点灯测试装置， 可有效解决上述问题。

本实用新型采用的技术方案如下：

本实用新型提供一种液晶面板点灯测试装置，包括测试外壳，所述测试外 壳的内部固定有供电电源和测试电路主板；所述供电电源与所述测试电路主板 电连接，用于向所述测试电路主板供电；所述测试电路主板的端部设置有至少 一个测试单元；其中，所述测试单元引出n根测试探针；

在液晶面板的表面印制若干条测试线，并在所述液晶面板的侧部安装有至 少一个测试接口；其中，所述测试接口由n个测试子接口组成；

所述测试单元所引出的每根测试探针与所述测试接口中的一个测试子接口 的一端电性连接，所述测试子接口的另一端与m根所述测试线的末端电连接，由 此实现m根测试线通过测试子接口与对应的测试探针连接；其中，m大于等于2；

其中，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.3-0.6毫米。

优选的，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.4毫米。

优选的，每个所述测试单元包括的测试探针的数量为20个。

优选的，所述液晶面板的侧部安装有6个所述测试接口。

优选的，所述测试电路主板的端部设置有2个测试单元。

本实用新型提供的液晶面板点灯测试装置具有以下优点：

本实用新型中，将多根测试线的未端接入到同一个测试子接口中，而测试 子接口再通过测试探针与测试电路主板连接，从而实现测试电路主板点亮测试 线，从而进行点灯测试过程；由于同一个测试子接口与多根测试线实现电性连 接，因此，在相同面积的测试面板印制相同数量的测试线时，可有效减少测试 子接口的布置数量，从而可增大测试子接口的间距，方便搭建点灯测试装置， 减化了点灯测试装置的结构复杂度，降低了点灯测试装置的维修率，延长了点 灯测试装置的使用寿命。

附图说明

图1为本实用新型提供的液晶面板点灯测试装置的结构示意图。

图2为图1中A区域的局部放大图；

其中，1-液晶面板；2-液晶面板点灯测试装置；3-测试单元；4-测试探针； 5-测试子接口；6-测试接口。

具体实施方式

为了使本实用新型所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白， 以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处 所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

结合图1和图2，其中，图2中，C区域为B区域的局部放大图。本实用新型提 供一种液晶面板点灯测试装置，包括测试外壳，测试外壳的内部固定有供电电 源和测试电路主板；供电电源与测试电路主板电连接，用于向测试电路主板供 电；测试电路主板的端部设置有至少一个测试单元，在图2中，共有2个测试单 元；其中，测试单元引出n根测试探针，参考图2可以看出，在图2中，每个测试 单元包括的测试探针的数量为20个。

在液晶面板的表面印制若干条测试线，并在液晶面板的侧部安装有至少一 个测试接口，参考图1，液晶面板的侧部安装有6个测试接口。其中，测试接口 由n个测试子接口组成；每个测试接口包括的测试子接口的数量与每个测试单元 包括的测试探针的数量相等。

测试单元所引出的每根测试探针与测试接口中的一个测试子接口的一端电 性连接，测试子接口的另一端与m根测试线的末端电连接，由此实现m根测试线 通过测试子接口与对应的测试探针连接；其中，m大于等于2；

其中，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.3-0.6毫米，例如，为0.4 毫米。