[实用新型]一种显示面板测试装置及测试系统

权利要求书

1.一种显示面板测试装置，其特征在于，包括探针组件、控制器 和多个控制开关；

所述探针组件包括M个测试探针，M＞1，为正整数；显示面板上 的任意一个测试端口至少对应一个所述测试探针；

每一个所述测试探针通过一个控制开关与所述控制器相连接，所 述测试探针用于在所述控制器开启所述控制开关时，接收所述控制器 输出的测试信号。

2.根据权利要求1所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述 控制开关为电子开关。

3.根据权利要求1所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述 控制开关为晶体管；

所述晶体管的栅极和第一极连接所述控制器，第二极与所述测试 探针相连接。

4.根据权利要求3所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述 晶体管为N型或P型晶体管。

5.根据权利要求3所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述 晶体管为增强型或耗尽型晶体管。

6.根据权利要求1所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述 控制器包括数据处理器，用于计算出显示面板中像素单元的宽度H与 相邻两个测试探针之间的间距a以及测试探针宽度b之间的关系。

7.根据权利要求6所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述 数据处理器计算出的显示面板中像素单元的宽度H与相邻两个测试探 针之间的间距a以及测试探针宽度b之间的关系为H＝3a+3b。

8.根据权利要求6所述的显示面板测试装置，其特征在于，所述 数据处理器计算出的显示面板中像素单元的宽度H与相邻两个测试探 针之间的间距a以及测试探针宽度b之间的关系为H＝2a+2b。

9.根据权利要求1-8任一项所述的显示面板测试装置，相邻两个 测试探针之间的间距a为3μm～4μm，测试探针的宽度b为2.5μm～3.5 μm；a≥b。

10.根据权利要求1所述的显示面板测试装置，其特征在于，所 述探针组件还包括用于连接显示面板上公共电压端的公共电压探针。

11.根据权利要求10所述的显示面板测试装置，其特征在于，所 述公共电压探针位于所述探针组件中第一个测试探针之前，或者位于 所述探针组件中最后一个测试探针之后。

12.根据权利要求1所述的显示面板测试装置，其特征在于，所 述显示面板包括横纵交叉的栅线和数据线；所述测试端口通过引线与 所述栅线和/或所述数据线相连接。

13.根据权利要求1所述的显示面板测试装置，其特征在于，所 述显示面板上的任意一个测试端口至少对应两个所述测试探针，以使 得所述控制器开启所述控制开关时，与所述测试端口相连接的至少两 个所述测试探针均接收所述控制器输出的测试信号。

14.一种测试系统，其特征在于，包括显示面板以及如权利要求 1-13任一项所述的显示面板测试装置。

15.根据权利要求14所述的测试系统，其特征在于，还包括图像 采集装置，用于对所述显示面板显示的测试图像进行采集。

16.根据权利要求15所述的测试系统，其特征在于，所述图像采 集装置包括CCD或CMOS摄像机。