[实用新型]一种辐照样品自动调节探测装置

权利要求书

1.一种辐照样品自动调节探测装置，其特征在于，所述装置含有工作平台（1）,工作平台（1）的上表面设置有用于调节样品（15）位置的样品台调节架和用于监测样品（15）辐射情况的探测器调节架；

所述的样品台调节架含有放置样品（15）的样品台（5），样品台（5）与下方的旋转台（6）固定，旋转台（6）的下方固定有向旋转台（6）提供动力的电机（13），电机（13）通过调节机构固定在工作平台（1）上；电机（13）与自动控制系统（12）通过线路连接；

所述的探测器调节架为n型结构，包括上支架（3）和下支架（2）；上支架（3）为探测器平台，有三个安装平面，每个安装平面上固定有一个探测器（4），相邻探测器（4）之间的中轴线夹角为45°，中轴线相交于样品（15）的中心；上支架（3）固定在下支架（2）上，绕下支架（2）上的旋转中心旋转；下支架（2）固定在工作平台（1）上；所述的探测器（4）与自动控制系统（12）通过线路连接。

2.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置，其特征在于，所述的上支架（3）上安装有角位移台（18），角位移台（18）上加装升降台（17），升降台（17）顶端安装探测器（4），角位移台（18）和升降台（17）配合，调节探测器（4）与样品（15）的相对位置。

3.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置，其特征在于，所述的上支架（3）和下支架（2）通过螺钉螺母、铰链或粘胶固定连接。

4.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置，其特征在于，所述的样品台（5）通过螺栓、卡具或粘胶与下方的旋转台（6）固定连接。

5.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置，其特征在于，所述的调节机构包括转接台Ⅰ（7），转接台Ⅰ（7）与电机（13）固定连接，转接台Ⅰ（7）与转接台Ⅲ（20）、光学调节台Ⅰ（8）、转接台Ⅱ（11）、光学调节台Ⅱ（10）、光学调节台Ⅲ（9）顺序连接，光学调节台Ⅲ（9）固定在工作平台（1）上；所述的光学调节台Ⅰ（8）、光学调节台Ⅲ（9）、光学调节台Ⅱ（10）与自动控制系统（12）通过线路连接。

6.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置，其特征在于，所述的样品台（5）为圆盘，在圆盘上开有用于放置样品（15）的样品孔。

7.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置，其特征在于，所述的电机（13）上安装有检测电机（13）旋转位置的光栅尺（14）。

8.根据权利要求1所述的辐照样品自动调节探测装置，其特征在于，所述的电机（13）外安装有屏蔽电离辐射的电机罩壳。

9.根据权利要求5所述的辐照样品自动调节探测装置，其特征在于，光学调节台Ⅰ（8）、光学调节台Ⅲ（9）、光学调节台Ⅱ（10）上分别安装有用于检测坐标的光栅尺。