[实用新型]用于纱线瑕疵检测的双光源检测系统有效
申请号: | 201620049783.7 | 申请日: | 2016-01-19 |
公开(公告)号: | CN205352965U | 公开(公告)日: | 2016-06-29 |
发明(设计)人: | 付明磊;沈敏烽;刘玉玲 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学义乌科学技术研究院有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95 |
代理公司: | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人: | 王利强 |
地址: | 322000 浙江省金*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 纱线 瑕疵 检测 光源 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及纱线质量的光电检测领域,特别是一种采用双光源方式进行纱线瑕疵检测的检测系统。
背景技术
改革开放以来,我国的纺织行业发展迅速,整体规模和产值都有了很大的提升,目前我国纺织工业产值已占世界的四分之一。在纺织行业中,纱线瑕疵检测对于纺织品的生产质量有重大影响,目前自动化检测纱线瑕疵在生产中起到越来越重要的作用。
目前,关于纱线瑕疵光电检测的技术方案很多。比如赵晓东等在《电容式电子清纱系统的设计》中采用电容探头来检测纱线的粗细和扁平瑕疵;贾孔昊等在《电子清纱系统的设计与开放》中采用COMS传感器来检测纱线的粗细瑕疵;董晓亮等在《分布式纱线检测系统的初步探究》中采用单光源,在透射和反射光电转换的基础再结合电容来检测扁平瑕疵;唐述宏等在《光电技术在纱线疵点检测中的应用》中采用光源照射纱线,再通过CCD来转换信号进行纱线疵点检测。以上文献提出的技术方案虽然解决了纱线瑕疵问题,但是这些方案的实现成本较高,电路系统相对复杂,并且采用电容检测纱线扁平瑕疵容易受环境影响。
发明内容
为了克服现有技术方案实现成本较高、电路系统复杂、检测纱线扁平瑕疵容易受环境影响等缺点,本实用新型提供一种成本较低、系统简单、且能同时检测纱线粗细瑕疵和扁平瑕疵的双光源检测系统。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种用于纱线瑕疵检测的双光源检测系统,所述检测系统包括第一光源检测单元和第二光源检测单元,第一光源和第二光源的光线颜色不同,所述第一光源检测单元和第二光源检测单元的检测光轴与待检测纱线的运动方向垂直,同时第一光源检测单元和第二光源检测单元检测光轴正交,所述第一光源检测单元和第二光源检测单元均与用于根据检测电压与标准电压的差值判断不同纱线瑕疵类型的双光源检测模块连接。
进一步,所述第一光源检测单元和第二光源检测单元均采用光源检测组件,所述光源检测组件包括LED光源、扩束透镜、准直透镜、聚焦透镜、滤光片和光电转换模块,所述LED光源的出射激光方向与所述扩束透镜的光轴、所述准直透镜的光轴、所述聚焦透镜的光轴、所述滤光片的中心轴和所述光电转换模块的传感器中心轴全部共轴,所述扩束透镜和所述准直透镜用于将所述LED光源的出射激光光束转变为平行光;所述聚焦透镜用于将通过纱线后的激光光束聚焦;所述滤光片的峰值响应波长与所述LED光源的中心波长一致,用于过滤自然光和杂散光;所述光电转换模块用于将所述滤光片的输出光信号转换为与之等比例变化的电信号。
再进一步,所述第一光源检测单元为红光检测单元,所述第二光源检测单元为绿光检测单元。当然,也可以选择其他不同颜色。
本实用新型专利的技术构思为:采用双光源检测,例如红光检测单元检测纱线水平方向的瑕疵,采用绿光检测单元检测纱线竖直方向的瑕疵,从而解决扁平纱线使用单光源时难以实现检测的技术问题。同时,采用不同颜色的光源和滤光片能够降低由于光源之间相互影响而产生的噪声。
本实用新型专利的有益效果主要表现在:通过两个光源检测解决了单光源无法检测纱线扁平瑕疵的问题,同时具有检测系统受环境影响小,系统寿命长等优点。
附图说明
图1是光源纱线检测结构示意图
图2是用于纱线瑕疵检测的双光源检测系统的电路图。
图3是双光源纱线检测系统的具体架构图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步描述。
参照图1~图3,一种用于纱线瑕疵检测的双光源检测系统,所述检测系统包括第一光源检测单元和第二光源检测单元,第一光源和第二光源的光线颜色不同,所述第一光源检测单元和第二光源检测单元的检测光轴与待检测纱线的运动方向垂直,同时第一光源检测单元和第二光源检测单元检测光轴正交,所述第一光源检测单元和第二光源检测单元均与用于根据检测电压与标准电压的差值判断不同纱线瑕疵类型的双光源检测模块连接。
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