[实用新型]一种探针

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，特别涉及一种探针。

背景技术

随着电子技术迅速发展，电路板的复杂性大大提高，并且产量暴增。2014年电路板产量高达2.35亿立方米。大量的电路板的生产对电路板的测试提出了较高要求。人工检查电路板质量成本高，速度慢不适应电子技术的发展，电路板自动检测成为行业主流。

目前生产的电路板主要为PCB(PrintedCircuitBoard，印制电路板)。PAD(焊盘)是电路板上一种重要的单元，可以是长方形、圆形的或其他形状。PAD要求具有一定的面积，若PAD面积不足会导致焊接不牢靠，对PCB的性能造成一定的影响。

目前的测试电路板的PAD的方法是采用两根探针(如图1所示)，两根探针分别接电源的正负极，当两根探针同时接触到同一个PAD时，会通过PAD导通，通过判断测试电路是否导通可以判断PAD是否合格。但这种方法采用的两根探针可能会出现变形(如图2所示))，导致两根探针短路在一起，因此需要保证一定距离以保证两根探针之间的绝缘性，只能用于测试面积较大的焊盘。目前还没有一种合适的探针既保证绝缘性，又能测试较小尺寸焊盘。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种探针，用以解决现有技术中存在没有一种合适的探针既保证绝缘性，又能测试较小尺寸焊盘问题。

本实用新型实施例提供一种探针，包括具有弹性的导电材料制成的探针主体和辅助探针，所述探针主体和所述辅助探针由绝缘夹层隔开。

由于本实用新型实施例的探针中的探针主体和辅助探针由绝缘夹层隔开，因此既可以保证探针主体和辅助探针之间的绝缘性，还可以将适当的减小探针主体和辅助探针之间的距离，用于测试较小尺寸的焊盘。

可选的，所述探针主体为圆柱状，辅助探针为空心结构的圆柱状；

所述探针主体外层为套筒状的绝缘夹层；

所述绝缘夹层外层为所述辅助探针；

所述探针主体和所述辅助探针的轴心线重合。

本实用新型实施例探针的探针主体和辅助探针的形状和位置，使得本实用新型实施例的探针以探针主体为中心探测的区域较大，当焊盘存在时误判焊盘不存在的几率较小。

可选的，空心结构的所述辅助探针的内直径大于所述绝缘夹层的外层的直径。

由于本实用新型实施例探针的辅助探针和由绝缘层包覆的探针主体之间存在空隙，探针主体和辅助探针可以相互独立运动，更灵活的测量焊盘，

可选的，所述探针主体的长度大于所述辅助探针的长度。

本实用新型实施例以探针主体突出，定位焊盘的时候以探针主体为中心，可以更准确的定位。

可选的，所述探针主体和所述辅助探针为圆柱状；

所述探针主体和/或辅助探针外层为套筒状的绝缘夹层；

所述探针主体和所述辅助探针的轴心线相互平行。

由于本实用新型实施例的探针主体和辅助探针之间有绝缘层，绝缘层厚度可以更小的前提下，保证探针主体和辅助探针之间的绝缘性，因此探针主体和辅助探针之间的距离可以更近，可以用于测量更小尺寸焊盘。

可选的，所述探针主体和所述辅助探针的材料是铜。

本实用新型实施例探针主体和辅助探针的材料弹性和导电性更好。

可选的，所述绝缘夹层的材料为塑料绝缘材料或橡胶绝缘材料。

本实用新型实施例采用的绝缘材料在厚度较小的情况下可以有较大的绝缘电阻。

可选的，所述探针主体的直径小于100微米。

附图说明

图1为现有技术中测试PAD的探针示意图；

图2为现有技术中测试PAD的探针变形示意图；

图3为本实用新型第一种探针示意图；

图4为利用本实用新型第一种探针测试PAD示意图；

图5为本实用新型第二种探针示意图；

图6为本实用新型第二种探针的探针主体包覆绝缘夹层示意图

图7为本实用新型第二种探针的探针主体和辅助探针包覆绝缘夹层示意图；

图8为本实用新型第二种探针的辅助探针包覆绝缘夹层示意图；

图9为利用本实用新型第一种探针测试PAD示意图。

具体实施方式