[发明专利]一种基于磁记忆信号垂向特征分析的损伤状态识别方法

权利要求书

1.一种基于磁记忆信号垂向特征分析的损伤状态识别方法，具体实施步骤为：

(1)利用磁梯度张量测量方法，提取磁记忆信号不变特征：总梯度模量；

磁记忆信号梯度张量描述磁场变化，

式中，G为“磁梯度张量”，H_x、H_x、H_z分别为x、y、z方向磁记忆信号磁场强度，总梯度模量是磁梯度张量的一种缩并运算，总梯度模量是不受检测方向变化影响、可反映磁场梯度的变化程度的标量，

式中H_ij是磁梯度张量G矩阵中分量，i，j＝x，y，z；

(2)根据总梯度模量分布特征和极值点位置确定损伤的位置和宽度；

(3)通过测量不同提离值下磁记忆信号平面分布，获得磁记忆信号垂向分布；

在损伤边界正上处提离值为H₁和H₂，H₂＞H₁时测得的总梯度模量分别为和

式中，q为点磁荷电量，S为等效磁荷的埋深，H₁和H₂分别为不同提离值；

(4)计算相对衰减系数指标，描述损伤边界位置处总梯度模量衰减；

将H₁高度测得的总梯度模量作为参考值，定义H₂高度总梯度模量的相对衰减系数为β，

(5)根据相对衰减系数曲线，识别损伤类别；

根据相对衰减系数β可以求出等效磁荷的埋深S，裂纹损伤边界处总梯度模量衰减速度和幅度要远大于应力集中，

当S≈0时，判断为裂纹缺陷；当S＞＞0时，为应力集中缺陷。