[发明专利]模体、测量系统矩阵的方法及装置有效
| 申请号: | 201611270482.8 | 申请日: | 2016-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN106650700B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
| 发明(设计)人: | 陈鸣之;杨宏成 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 模体 测量 系统 矩阵 方法 装置 | ||
1.一种模体,用于系统矩阵的测量,其特征在于,包括:
基体;以及
布设在所述基体中的标记物,其中,所述标记物的大小在至少一个维度上小到足以使得所述标记物在该至少一个维度上的投影图像的尺寸小于探测器像素尺寸,其中所述探测器采集射线源发出的射线束穿过所述模体后的投影图像。
2.如权利要求1所述的模体,其特征在于,所述模体包括布设在所述基体不同位置处的多个所述标记物。
3.如权利要求2所述的模体,其特征在于,所述标记物的布设使得它们在同一投影角度下的投影图像中的位置不重合。
4.如权利要求3所述的模体,其特征在于,所述标记物为多个标记物,并且所述多个标记物在所述基体中被布设为如下设计中的一种或多种:螺线型、直线型、曲线型、折线型。
5.如权利要求1所述的模体,其特征在于,所述标记物的形状为小球形状、细丝形状、或两者的组合。
6.如权利要求1所述的模体,其特征在于,所述标记物的材料与所述基体的材料的吸收系数不同。
7.一种测量系统矩阵的方法,其特征在于,包括:
获取如权利要求1~6任一项所述的模体中体素的扩散函数;以及
基于初始系统矩阵和所述体素的扩散函数获得系统矩阵。
8.如权利要求7所述的测量系统矩阵的方法,其特征在于,所述标记物为小球,所述获取模体中体素的扩散函数包括:
采集所述模体的投影图像,获取所述小球在所述投影图像中的投影中心点;
以所述小球在所述投影图像中的投影中心点为中心选取预定邻域,以所述小球的投影中心点的灰度值为基准对该邻域的像素点的灰度值进行归一化;
基于所述预定邻域中像素点到所述小球的投影中心点的距离及该像素点的归一化的灰度值生成所述小球的扩散函数;以及
基于所述小球的扩散函数和插值函数生成所述模体中体素的扩散函数。
9.如权利要求8所述的测量系统矩阵的方法,其特征在于,基于所述小球的扩散函数和插值函数生成所述模体中体素的扩散函数包括:
建立与所述小球的扩散函数对应的基函数;
对与所述小球的扩散函数对应的基函数特征表示进行插值获得所述模体中体素的基函数特征表示;
将所述模体中体素的基函数特征表示转换为与该体素对应的扩散函数。
10.如权利要求8所述的测量系统矩阵的方法,所述插值函数为:最近邻插值函数、三线性插值函数、B样条插值函数中的一种。
11.如权利要求7所述的测量系统矩阵的方法,其特征在于,所述标记物为细丝,所述获取模体中体素的扩散函数包括:
采集第一投影角度下所述模体的投影图像,获取所述投影图像中细丝上每一个点在与细丝所在方向垂直的方向上的第一扩散函数;
采集第二投影角度下所述模体的投影图像,获取细丝上每一个点在与细丝所在方向垂直的方向上的第二扩散函数;所述第一投影角度与所述第二投影角度垂直;
将与所述细丝上每一个点对应的第一扩散函数和第二扩散函数相乘以获得细丝的扩散函数;
基于所述细丝的扩散函数和插值函数生成所述模体中体素的扩散函数。
12.如权利要求11所述的测量系统矩阵的方法,其特征在于,获取所述投影图像中细丝上的点在与细丝所在方向垂直的方向上的扩散函数包括:
获取所述细丝上的点在所述投影图像中的投影中心点;
以所述细丝上该点在所述投影图像中的投影中心点为中心选取预定邻域,以所述细丝上该点的投影中心点的灰度值为基准对该邻域的像素点的灰度值进行归一化;
基于所述预定邻域中像素点到所述细丝上该点的投影中心点的距离及该像素点的归一化的灰度值生成所述细丝上该点在与细丝所在方向垂直的方向上的扩散函数。
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