[发明专利]一种基站网络信号覆盖状态的预测方法及系统有效
申请号: | 201611270046.0 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN108271165B | 公开(公告)日: | 2021-04-27 |
发明(设计)人: | 吴剑浪;李俊杰;陈锋;朱争;孙春来 | 申请(专利权)人: | 中国移动通信集团浙江有限公司;中国移动通信集团公司 |
主分类号: | H04W16/18 | 分类号: | H04W16/18;H04W24/02;H04W24/06 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
地址: | 310016 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基站 网络 信号 覆盖 状态 预测 方法 系统 | ||
1.一种基站网络信号覆盖状态的预测方法,其特征在于,所述方法包括:
对第四代移动通信LTE无线网络规划中的目标地区进行多维度划分,得到所述目标地区的场景模型库,其中,所述场景模型库中存储有各场景,且各场景中均对应一类基站;
根据预先获取的数据源确定各基站的基准衰减曲线;
根据所述基准衰减曲线获取对应基站的信号覆盖模型,其中,所述信号覆盖模型包括当前基站的位置信息与信号覆盖状态预测值的对应关系;
以及,根据所述场景模型库中的与待建的目标基站相邻的基站,对所述目标基站的信号覆盖模型进行校准,得到所述目标地区的目标基站的网络信号覆盖状态预测结果;
所述根据预先获取的数据源确定各基站的基准衰减曲线包括:
根据当前基站主控小区的位置及主径方向角,确定主径方向的有效样本点;
根据所述有效样本点和当前基站位置关系,获取主控小区主径方向一定距离内栅格所包含有效样本点电平平均值,得到每个栅格的电平,并根据栅格电平绘制得到该基站的基准衰减曲线;
继续确定下一基站的基准衰减曲线,直到获取所述场景模型库中全部场景对应的基站的基准衰减曲线;
所述根据所述基准衰减曲线获取对应基站的信号覆盖模型,包括:
获取当前基站的天线水平方向pattern图;
根据当前基站的各基准衰减曲线及所述天线水平方向pattern图,获取当前基站的信号覆盖模型;
继续确定下一基站的信号覆盖模型,直到获取所述场景模型库中全部场景对应的基站的信号覆盖模型;
所述根据所述场景模型库中的与待建的目标基站相邻的基站,对所述目标基站的信号覆盖模型进行校准,得到所述目标地区的目标基站的网络信号覆盖状态预测结果,包括:
根据所述场景模型库中的与待建的目标基站相邻的基站的信号覆盖模型,应用邻域加权平局滤波方法校准所述目标基站的信号覆盖模型,确定校准后的信号覆盖模型即为所述目标地区的目标基站网络信号覆盖状态预测结果;
以及,根据所述目标基站的网络信号覆盖状态预测结果对所述目标地区进行LTE无线网络规划。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据当前基站主控小区的位置及主径方向角,确定主径方向的有效样本点,包括:
在预先获取的场景现网采集数据源中,筛选得到对应基站的采集样本数据;
将当前基站及采集样本的位置信息均定位在栅格图中;
以及,根据主控小区的位置信息,在栅格图中筛选得到基站的天线主瓣方向范围内的小区样本点作为有效样本点。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述有效样本点和当前基站位置关系,获取主控小区主径方向一定距离内栅格所包含有效样本点电平平均值,得到每个栅格的电平,并根据栅格电平绘制得到该基站的基准衰减曲线,包括:
根据栅格图的栅格的中心经纬度计算得到各栅格与基站间的距离;其中,单位栅格中包括多个有效样本点;
根据基站天线主瓣方向范围内有效样本点电平,获取各栅格内样本点电平平均值,得到栅格粒度的参考信号接收功率RSRP值;
以及,根据各所述栅格与基站间的距离,以及各栅格的各位置点的RSRP值,绘制得到当前基站主控小区主径方向的电平衰减曲线,并将所述电平衰减曲线作为当前基站的基准衰减曲线。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据当前基站对应的基准衰减曲线及所述天线水平方向pattern图,获取当前基站的信号覆盖模型,包括:
在栅格图中,根据当前栅格的中心经纬度计算得到当前栅格和当前基站之间的距离;
根据当前栅格的中心经纬度及当前基站的天线主瓣方向,计算得到当前栅格与主瓣方向的夹角;
将当前栅格和当前基站之间的距离以及所述夹角对应至当前基站的基准衰减曲线及所述天线水平方向pattern图中,获得当前栅格的RSRP值并绘制信号覆盖表,继续确定下一栅格的信号覆盖表,直到获取栅格图中全部栅格对应的平均电平,其中,所述信号覆盖表中包括当前栅格的位置信息与信号覆盖状态预测值的对应关系;
以及,将全部的信号覆盖表汇总并将中心经纬度落在同一角度和距离内的栅格的RSRP求平均值,得到当前场景中基站对应的信号覆盖模型。
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