[发明专利]图像校正方法及装置、X射线摄影设备有效

专利信息
申请号: 201611267793.9 申请日: 2016-12-31
公开(公告)号: CN106651768B 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 张文日;牛杰;马艳歌;崔凯 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技有限公司
主分类号: G06T3/00 分类号: G06T3/00;A61B6/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201807 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 图像 校正 方法 装置 射线 摄影 设备
【权利要求书】:

1.一种图像校正方法,其特征在于,包括:

获取所述图像的背景区域中列像素点灰度值之和的变化趋势,其中在所述背景区域中选取第一背景区域和第二背景区域,分别通过所述第一背景区域与第二背景区域的数据点进行拟合获得第一曲线与第二曲线,通过所述第一曲线与所述第二曲线的变化趋势获得所述图像背景区域中列像素点灰度值之和的变化趋势,所述图像中列的方向与滤线栅铅条所在方向平行;

基于所述图像的背景区域中列像素点灰度值之和的变化趋势获取目标灰度值;

基于所述目标灰度值对所述图像进行校正。

2.如权利要求1所述的图像校正方法,其特征在于,所述获取所述图像的背景区域中列像素点灰度值之和的变化趋势包括:

在所述背景区域中选取第一背景区域和第二背景区域,其中所述第一背景区域为列坐标小于等于所述图像的目标区域的最小列坐标所在的区域,所述第二背景区域为列坐标大于等于所述图像的目标区域的最大列坐标所在的区域;

基于所述第一背景区域中的第一数据点进行拟合以获得与所述第一背景区域对应的第一曲线,所述第一数据点的横坐标代表列像素点的列坐标,纵坐标代表所述列坐标下列像素点灰度值之和的均值;

基于所述第二背景区域中的第二数据点进行拟合以获得与所述第二背景区域对应的第二曲线,所述第二数据点的横坐标代表列像素点的列坐标,纵坐标代表所述列坐标下列像素点灰度值之和的均值;

基于所述第一曲线和所述第二曲线的变化趋势获取所述图像的背景区域中列像素点灰度值之和的变化趋势。

3.如权利要求2所述的图像校正方法,其特征在于,

所述基于所述第一背景区域中的第一数据点进行拟合以获得与所述第一背景区域对应的第一曲线包括:对所述第一背景区域中的第一数据点平滑滤波后进行线性拟合以获得与所述第一背景区域对应的第一曲线;

所述基于所述第二背景区域中的第二数据点进行拟合以获得与所述第二背景区域对应的第二曲线包括:对所述第二背景区域中的第二数据点平滑滤波后进行线性拟合以获得与所述第二背景区域对应的第二曲线。

4.如权利要求3所述的图像校正方法,其特征在于,基于所述图像的背景区域中列像素点灰度值之和的变化趋势获取目标灰度值包括:

在所述第一曲线与所述第二曲线相交时,确定由所述第一曲线和所述第二曲线组成的曲线上纵坐标所对应的最大灰度值为所述目标灰度值;

在所述第一曲线与所述第二曲线平行时,分别确定所述第一曲线上纵坐标所对应的最大灰度值,以及所述第二曲线上纵坐标所对应的最大灰度值,以所述第一曲线上纵坐标所对应的最大灰度值和所述第二曲线上纵坐标所对应的最大灰度值中最大的灰度值作为目标灰度值。

5.如权利要求4所述的图像校正方法,其特征在于,所述基于所述目标灰度值对所述图像进行校正包括将所述图像中的像素点的灰度值调整至所述目标灰度值。

6.如权利要求5所述的图像校正方法,其特征在于,所述将所述图像中的像素点的灰度值调整至所述目标灰度值包括:

以所述目标灰度值对所述第一曲线和所述第二曲线进行归一化;

基于归一化的第一曲线和归一化后的第二曲线获得滤线栅校正系数;

以所述图像除以所述滤线栅校正系数以对所述图像进行校正。

7.如权利要求6所述的图像校正方法,其特征在于,所述基于归一化的第一曲线和归一化的第二曲线获得滤线栅校正系数包括:

获取所述归一化的第一曲线的斜率以及所述归一化的第二曲线的斜率;

基于所述归一化的第一曲线的斜率、所述归一化的第二曲线的斜率以及目标灰度值对应的列像素点的列坐标获得滤线栅的校正系数。

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