[发明专利]一种用于多参数水质检测仪的水浴恒温装置

说明书

技术领域

本发明属于一种水质检测仪技术领域，具体涉及一种用于多参数水质检测仪的水浴恒温装置。

背景技术

多参数水质检测仪在对样品检测前需要进行前处理，由于温度对化学反应的影响较大，因此必需设计良好的检测室恒温系统，以保证样品在同一温度条件下进行反应。检测室的恒温系统在样品的整个前处理过程中起着重要的作用，只有在同一环境下，才能保证仪器检测的重复性和精确性。在现代仪器中经常使用的恒温加热方法主要有空气浴、水浴、金属直接加热等方法。而现有的空气浴恒温方式储热能力低，容易受到外界的干扰；金属恒温能够在较快的时间内将温度直接传输给检测池，但是其散热较快，难以控制，且能量消耗大。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足提供一种用于多参数水质检测仪的水浴恒温装置，其具有对流换热能力强、储热能强、热容量较大的热学特性，能够大大的缩短了被测水样溶液的加热时间，并且水浴加热受环境影响的因素比较小、受热均匀、易于实现恒温的控制。

为实现上述技术目的，本发明采取的技术方案为：

一种用于多参数水质检测仪的水浴恒温装置，其中：包括步进电机蠕动泵、恒温水进口管、容器、右半导体制冷器、通气针头、流通检测池、恒温水出口管、直流电机蠕动泵、左半导体制冷器、温度驱动器、温度控制器、热敏温度传感器和密封盖，所述的恒温水进口管安装在步进电机蠕动泵上，所述的通气针头安装在恒温水进口管上且通气针头位于容器内，所述的密封盖固定安装在容器的顶面上，所述的热敏温度传感器安装在容器内，所述的热敏温度传感器与温度控制器连接，所述的温度控制器与温度驱动器连接，所述的温度驱动器分别与右半导体制冷器和左半导体制冷器连接，所述的右半导体制冷器安装在容器的右侧面上，所述的左半导体制冷器安装在容器的左侧面上，所述的流通检测池安装在容器内，所述的容器与流通检测池之间填充有蒸馏水，所述的容器底部通过恒温水出口管与直流电机蠕动泵连接。

为优化上述技术方案，采取的具体措施还包括：

上述的容器采用不锈钢材料制作而成。

上述的右半导体制冷器与左半导体制冷器安装在容器的同一高度处。

上述的密封盖与容器的接触面之间安装有密封圈。

上述的温度控制器内安装有ARM处理器。

本发明由闭环电路控制系统、恒温液更换系统和水浴机械结构三部分构成。将流通检测室放置于设计的水浴之中，设计的不锈钢容器与加热制冷的半导体直接接触，半导体将加热或者制冷经导热性能良好的不锈钢传递给水浴，通过保持水浴的恒温来控制流通检测室内液体温度的恒定。闭环电路控制系统由核心控制器、热敏温度传感器、电压驱动器、半导体致冷器四部分组成。通过温度传感器及时、准确的将样品室内溶液的温度转化为电信号，核心控制器接收到电信号后与设置好的电压信号进行对比，根据对比结果来控制电压驱动器正向或者反向导通，从而控制流过半导体制冷器件电流的方向，半导体上电流为正向时进行加热，电流为反向时进行制冷。半导体致冷器实质是一个电热转换装置，它体积小，使用寿命长，能加热和制冷。恒温水更换系统由直流泵来完成，每天通过直流泵更换检测室内的水，保证检测室内的水量以及水的洁净度，避免水质变化对光路测量的影响。

本发明的优点在于以下几点：具有对流换热能力强、储热能强、热容量较大的热学特性，能够大大的缩短了被测水样溶液的加热时间，并且水浴加热受环境影响的因素比较小、受热均匀、易于实现恒温的控制。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

其中的附图标记为：步进电机蠕动泵1、恒温水进口管2、容器3、右半导体制冷器4、通气针头5、流通检测池6、恒温水出口管7、直流电机蠕动泵8、左半导体制冷器9、温度驱动器10、温度控制器11、热敏温度传感器12、密封盖13。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式作出进一步说明：