[发明专利]一种射频电路的接收通路插损计算方法、装置及射频电路

说明书

技术领域

本发明涉及终端应用技术领域，特别涉及一种射频电路的接收通路插损计算方法、装置、射频电路及终端。

背景技术

随着现代社会科技的快速发展，人们对手机、平板电脑和笔记本电脑等终端的需求越来越大，使得终端的应用技术具有非常好的市场前景，并且发展势头良好。终端在进行无线通信过程中，往往采用电磁波作为信号的传输载体，因此，射频电路在终端的无线通信中居于十分重要的位置，射频性能的好坏直接关系到信号的收、发能力和终端与基站通信能力的高低。

现有技术中，终端中的射频电路的集成性越来越来高，对于射频电路的射频发射指标测试的也越来越全面，通过对射频发射指标的把控，基本上已经可以了解射频电路的发射通路是否存在问题。但是对于射频电路的接收通路来说，测试的指标相对比较少，基本上就只有灵敏度和吞吐量的测试，所以有时射频工程师并不能准确的确定接收通路的问题点。

当射频电路的接收通路出现问题时，射频工程师往往最先想到的就是判断接收通路的插损是否满足设计要求。由于现有技术中射频电路的接收通路的电路如图1所示，使得射频工程师若想测试射频电路的接收通路插损，需要在射频收发器(WTR)处断开通路将前端通路外接到网络分析仪上进行测试才能得到通路插损值，造成测试的过程时间长，且过程较为繁琐；并且由于接收通路中的频段比较多，如果要测试接收通路中每个频段的插损的话，耗时过长，可行性不高。因此由于现有技术中接收通路插损的测量方法太过繁琐，难以快速便捷的获取接收通路插损，无形中增加了接收通路问题点确定的难度，使得射频工程师发现接收通路问题点的时间和工作量过多，造成射频调试的效率不高。

发明内容

本发明的目的是提供一种射频电路的接收通路插损计算方法、装置、射频电路及终端，以快速便捷的计算出射频电路的接收通路插损，提升射频调试的效率。

为解决上述技术问题，本发明提供一种射频电路的接收通路插损计算方法，包括：

接收第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2；

将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值；

输出所述插损值。

可选的，接收第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2，包括：

实时接收并存储所述P1和所述P2；或

按预设时间间隔接收并存储所述P1和所述P2；或

接收到查询指令后，接收所述P1和所述P2。

可选的，将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值，包括：

根据接收的插损查询指令，将对应的P1分别与对应频段的P2相减，得到所述第一耦合器和对应频段中的第二耦合器之间的插损值。

可选的，根据接收的插损查询指令，将对应的P1分别与对应频段的P2相减，得到所述第一耦合器和对应频段中的第二耦合器之间的插损值，包括：

根据接收的插损查询指令，将所述插损查询指令对应时间点的P1分别与预定频段的P2相减，得到所述时间点的所述第一耦合器和预定频段中的第二耦合器之间的插损值。

此外，本发明提供了一种射频电路的接收通路插损计算装置，包括：

接收模块，用于接收第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2；

计算模块，用于将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值；

输出模块，用于输出所述插损值。

可选的，所述接收模块，包括：

实时接收单元，用于实时接收并存储所述P1和所述P2；或

间隔接收单元，用于按预设时间间隔接收并存储所述P1和所述P2；或

等待接收单元，用于接收到查询指令后，接收所述P1和所述P2。

可选的，所述计算模块，包括：

判断计算单元，用于根据接收的插损查询指令，将对应的P1分别与对应频段的P2相减，得到所述第一耦合器和对应频段中的第二耦合器之间的插损值。

可选的，所述判断计算单元，包括：

判断计算子单元，用于根据接收的插损查询指令，将所述插损查询指令对应时间点的P1分别与预定频段的P2相减，得到所述时间点的所述第一耦合器和预定频段中的第二耦合器之间的插损值。