[发明专利]一种快速配光检测方法

说明书

技术领域

本发明属于配光领域的检测方法，具体涉及一种快速进行配光检测方法。

背景技术

随着半导体照明产业的快速发展，LED由于其发光效率高、光输出定向型好、显色性能优良、可以选择色温等特点，目前正在被更加广泛地应用。LED作为半导体发光光源，其发光原理和光学特性与其他灯具具有很大差异，例如光源高压钠灯、白炽灯等，因此，应形成合适针对LED的配光检测方法。而配光曲线是研究LED配光的重要指标，是反映灯具光强分布情况的重要参数，也是指导照明设计和灯具选择的重要依据。

目前传统LED光强空间分布测量方法主要有三种，旋转反光镜式、运动反光镜式和旋转灯具式。旋转反光镜式最常见的测量方法是采用一个光度探测器，可选择LED光源不动，光度探测器围绕它旋转扫描，也可旋转光度探测器不动，LED光源围绕一个固定中心点旋转，由于测试过程中LED光源在移动，LED光源在不同位置所处的环境不同，易于受环境温度和运动气流影响。运动反光镜式测量方法无需LED光源在空间作大范围的运动，但LED光源反射到探测器上的光束在测量过程中方向会随时变化，但存在测量光束绕圆锥变化，测试距离固定不可调以及对于大型LED光源需要占用较大空间的缺点。中心旋转反光镜式测量需要LED光源在一个相当大的空间范围内作类圆周运动，同时反射镜和辅助轴必须与主轴以相同的角速度反向同步转动，这种测量方式对LED光源的发光稳定性及系统各轴同步转动要求极高。

传统的配光检测方法虽然能得到很精确的光源配光曲线，但是进行灯具的配光检测所需时间长，检测装置需要占用较大空间，操作复杂，不易进行。

发明内容

针对上述现有技术配光检测方法存在的技术问题，本发明的目的在于，提供一种快速配光检测方法，以便快速便捷地进行光源的配光检测。

为了实现上述任务，本发明采取如下的技术解决方案：

一种快速配光检测方法，其特征在于，按照下列步骤进行：

首先搭建一个实验暗室，实验暗室四面均有遮光幕布，所述遮光幕布的遮光率达到80％以上，使得实验暗室的环境照度为0.1lx；

在实验暗室内距离地面1.2m高度悬挂固定有任意角度旋转的光源；

在地上画出米字型图案，该米字型图案位于光源下方，在米字型图案上设置有多个测量点，用照度计测量米字型图案各测量点的照度值，并将照度值换算成光强值，即得到简易的配光曲线。

根据本发明，所述实验暗室的长度为4m，宽度为2m，高度为1.8m。

进一步地，所述米字型图案上设置的测量点有9个，其中，第1测量点对应于米字型图案边的长度为0.69m，第2测量点对应于米字型图案边的长度为1.2m，第3测量点对应于米字型图案边的长度为2m，第4测量点对应于米字型图案边的长度为0.44m，第5测量点对应于米字型图案边的长度为0.69m，第6测量点对应于米字型图案边的长度为1.2m，第7测量点对应于米字型图案边的长度为2m，第8测量点对应于米字型图案边的长度为0.44m，第9测量点在光源的垂直中心线上。

所述照度值与光强值的换算公式为：

I＝E×r²＝E×1.8²＝3.24×E

式中，I为光强，E为照度，r为所测平面与光源的距离。

所述的任意角度旋转光源由灯具和旋转轴装置组成。

所述旋转轴装置旋转的旋转方式是以逆时针旋转为正，水平线为0°，分别旋转0°、90°、45°和-45°。

所述米字型图案用工字型图案或者田字形图案替代。

所述简易配光曲线是由光源在不同角度不同点实测得到的照度值，进而得到光强值，即得到简易的配光曲线。

所述简易的配光曲线由极坐标表示，极坐标原点为光源的发光面中心，每个发光面中心表示一个光强值，越靠外圈光强越大，其中，角度值为剖面上的角度，向下方向为0°，所测点分别对应配光曲线图中的9个角度。

本发明的快速配光检测方法与现有技术相比，可以快速便捷地进行光源配光检测，得到配光曲线，此方法简单易行，便于操作。

附图说明

图1为本发明的快速配光检测方法流程图。

图中各代码表示：1、实验暗室、2、旋转轴装置、3、灯具、4、地平面、5、米字型图案、6.1～6.9、测量点。

图2为配光检测示意图。

以下结合附图与具体实施方式对本发明作进一步的说明。

具体实施方案