[发明专利]天线罩的电性能评估方法及装置

说明书

本发明公开了一种天线罩的电性能评估方法及装置，该天线罩的电性能评估方法包括：获取天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量，并获取天线罩的散射参量信息；获取天线罩的剖分面元参数信息；根据天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量、以及天线罩的散射参量信息和天线罩的剖分面元参数信息，分别计算出天线的远场信息和天线系统的远场信息；根据天线的远场信息和天线系统的远场信息，计算出天线罩的电性能参数信息。通过利用周期性单元叠层的散射参量信息，从而实现对具有微结构叠层的天线罩的电性能评估，并且大幅提高电性能评估中的计算精度及速率。

技术领域

本发明涉及天线领域，具体来说，涉及一种天线罩的电性能评估方法及装置。

背景技术

现有技术中，通常利用物理光学算法，根据天线口径面的电场、磁场分布或天线平面波谱与天线口径面的电长、磁场分布之间存在的傅里叶变换关系，计算入射到天线罩内壁上的近区场，然后，仿照几何光学的射线原理，计算局部平面上的透射和反射场。

但是这种电性能评估方法存在非常明显的缺陷，因为天线近区辐射场中电磁波与天线罩体的响应是通过多层介质传输矩阵级联的计算方法实现，但对于超材料天线罩，由于该种天线罩的内层嵌入有微结构，而不同形式(单元形状、排布形式、多层组合等)的微结构对不同频率、极化以及入射角度下的电磁响应特性是极其复杂的，并且与微结构两侧的介质层紧密相关，其电磁响应特性通常无法解析求解，因而，微结构层的等效传输矩阵将无法求解，进而无法对超材料天线罩电性能进行全面评估。

针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

针对相关技术中的问题，本发明提出一种天线罩的电性能评估方法及装置，能够在实现对多层介质天线罩以及具有微结构叠层的天线罩的电性能评估，并且大幅提高电性能评估中的计算精度及速率。

本发明的技术方案是这样实现的：

根据本发明的一个方面，提供了一种天线罩的电性能评估方法。天线罩和设置在天线罩内的天线组成天线系统，该电性能评估方法包括：

获取天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量，并获取天线罩的散射参量信息；

获取天线罩的剖分面元参数信息；

根据天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量、以及天线罩的散射参量信息和天线罩的剖分面元参数信息，分别计算出天线的远场信息和天线系统的远场信息；

根据天线的远场信息和天线系统的远场信息，计算出天线罩的电性能参数信息。

在一个优选的实施例中，获取天线罩的散射参量信息包括：

根据天线罩生成天线罩仿真模型，其中，天线罩和天线罩仿真模型均包括多个结构相同且排列方式相同的微结构叠层；

对天线罩仿真模型进行全波仿真以获取天线罩的散射参量信息。

在一个优选的实施例中，获取天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量，并获取天线罩的散射参量信息，包括：

获取天线的模型数据信息，以及天线罩的模型数据信息；

对天线的模型数据信息以及天线罩的模型数据信息进行数模预处理，获取天线的预处理数据信息以及天线罩的预处理数据信息，使天线的预处理数据信息以及天线罩的预处理数据信息以天线口面中心为坐标系原点，且天线口面与坐标系位于同一平面内；

根据天线的预处理数据信息获取天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量；

根据天线罩的预处理数据信息，获取天线罩的散射参量信息。