[发明专利]单模宽带双光纤准直器调试系统及其方法

说明书

本发明涉及一种单模宽带双光纤准直器调试系统及其方法，该单模宽带双光纤准直器调试系统包括FP‑LD 1550nm波长的激光光源、Photon Nano Scan光斑机、一维调节架、五维调节架、计算机和待调试的单模宽带双光纤准直器。所述的FP‑LD 1550nm波长的激光光源置于所述的单模宽带双光纤准直器一端，所述的待调试的单模宽带双光纤准直器置于五维调节架上的一维调节架上，该一维调节架用以调节所述的单模宽带双光纤准直器中的单模双光纤尾纤和透镜之间的间隙，所述的Photon NanoScan v2光斑机与所述的计算机相互连接，通过调试该五维调节架，实现该单模宽带双光纤准直器的调试。并使用光斑机双光束调试。本发明的调试方法操作简便、调试结果一致性高、插损小，产量高，可广泛应用于光纤通讯领域。

技术领域

本发明涉及单模宽带双光纤准直器制作方法领域，尤其涉及单模宽带装光纤准直器的调试技术，具体是指一种单模宽带双光纤准直器调试系统及其方法。

背景技术

目前常见的单模宽带双光纤准直器的制作方法一般是用相应波长范围的反射镜放置在按某一波长点计算的透镜的像方焦点处或是某一距离处反射法调试；因为波段1260～1620nm是光通讯的常用波段，所以选取1310nm和1550nm双波长点进行调试监控来满足此宽带要求。使用熔接机、切割刀和剥线钳把待调试的单模宽带双光纤准直器接入到光路中去，通过光功率计上的二个波长点的耦合插损显示大小，并使用一维调节架来回调试透镜和单模双光纤尾纤之间的间隙，直至耦合插损都调制到二个波长点的要求的插损范围。此方法影响耦合插损的因素太多，熔接机熔融损耗太大、光纤切割端面不良、透镜端面脏或是透镜偏心大，一维调节架调试不到位、焦距位置不对等都可能影响耦合插损，导致调试缓慢，新员工上手慢。常规的反射法调试的光路原理图如图1所示。

发明内容

本发明的目的是克服上述现有技术中的缺点，提供了一种操作方法简便、调试结果一致性高、插损小、产量高的单模宽带双光纤准直器调试系统及其方法。

为了实现上述的目的，本发明的单模宽带双光纤准直器调试系统及其方法具体如下：

该单模宽带双光纤准直器调试系统，其主要特点是，一种单模宽带双光纤准直器调试系统，其特征在于，所述的调试系统包括依次放置的光源、调节架、待调试的单模宽带双光纤准直器和光斑机，其中，所述的待调试的单模宽带双光纤准直器包括单模双光纤尾纤、透镜和外封管，所述的单模双光纤尾纤可移动的安装于所述的调试系统的一调节平台上，所述的透镜粘接在所述的外封管一端，并通过该外封管固定安装于该调节平台上，且所述的透镜与所述的单模宽带双光纤尾纤在同一直线上，所述的光斑机包括一探头，该探头可移动的安装于所述的待调试的单模宽带双光纤准直器透镜端，且所述的光斑机还与一计算机相连接，该计算机中内置一光斑机软件。

较佳地，所述的调节架包括一五维调节架和一一维调节架，该五维调节架包括一X-Y-Z方向单轴位移调整台和一所述的调节平台，该调节平台为一二维调节架，所述的一维调节架通过所述的二维调节架与该五维调节架相连接，且所述的X-Y-Z方向单轴位移调整台通过其上的Y轴旋钮、Z轴旋钮和X轴旋钮进行上下、左右、前后方向单轴线性位置的调整，所述的二维调节架上通过置于其上的俯仰角旋钮进行上下方向和前后方向倾斜角的调整，所述的单模双光纤尾纤通过所述的一维调节架可移动的安装在所述的二维调节架上。

较佳地，所述的单模双光纤尾纤和所述的透镜两者相邻的端面均为8度面，所述的单模双光纤尾纤的8度面的高点和低点分别对应所述的透镜的8度面的低点和高点，且所述的单模双光纤尾纤和所述的透镜的8度面均覆有与该单模宽带双光纤准直器的工作波长相匹配的增透膜。

更佳地，所述的单模双光纤尾纤包括两根并行设置的光纤，且所述的两根光纤的纤芯连线与所述的单模双光纤尾纤8度面的高低连线垂直。