[发明专利]一种FLASH芯片的测试系统

权利要求书

1.一种FLASH芯片的测试系统，其特征在于包括主控服务器、老化柜和测试控制板，所述主控服务器与测试控制板相连接，所述老化柜上设有测试架，所述测试架上设有多个测试插口，待测试FLASH放置到测试板上后，将测试板插入测试插口，所述测试插口上设有与所述测试板相匹配的电连接触点；测试系统可分时对待测试FLASH进行功能测试、老化测试和筛选测试；所述的功能测试过程如下：所述主控服务器将预先设置好的测试指令下发到测试控制板，测试控制板根据接收到的测试指令再下发控制命令到各个测试板，控制测试板按照主控服务器的要求控制对待测试FLASH进行功能测试；所述老化测试具体为：所述主控服务器根据测试要求，控制老化柜的温控系统，控制老化柜按照要求的温度曲线控制老化柜的温度，对待测试FLASH进行老化测试；所述筛选测试，在功能测试和老化测试过程中同时采集测试过程的测试数据，并将该数据反馈给到主控服务器，同时将待测试FLASH的各个电气参数数据反馈给到主控服务器，主控服务器根据反馈的数据对待测试FLASH进行自动筛选和标识。

2.根据权利要求1所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于所述的主控服务器上还设有图形化状态显示模块和操作模块，所述图形化状态显示模块与老化柜的测试架相匹配，实时根据老化架中的待测试FLASH进行更新，通过操作图形化状态显示模块中的图像模块可达到操作图像模块显示的实际待测试FLASH所在的测试板。

3.根据权利要求2所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于主控服务器通过有线或无线数据线与测试控制板相连；所述测试控制板通过I2C或串口协议与测试板相连。

4.根据权利要求3所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于所述测试板上设有多个待测试FLASH的放置座。