[发明专利]低密度奇偶校验码校验矩阵的构造方法、编码方法及系统

权利要求书

1.一种低密度奇偶校验码校验矩阵的构造方法，其特征在于，包括：

构造低密度奇偶校验码校验矩阵H的基矩阵B(H)的校验部分B(H_P)，所述基矩阵B(H)的大小为J×L，所述校验部分B(H_P)的大小为J×J，0≤J≤L，所述校验部分B(H_P)包括参数集合，以使设置有所述参数集合的所述校验部分B(H_P)为块三对角的编码结构；

根据所述校验部分B(H_P)构造出所述基矩阵B(H)所包括的信息部分，所述信息部分B(H_I)的大小为J×(L-J)；

根据所述校验部分B(H_P)和所述信息部分B(H_I)构造出所述基矩阵B(H)；

确定预设的扩展因子Z，将所述基矩阵B(H)扩展Z倍以构造出所述低密度奇偶校验码校验矩阵H，且所述低密度奇偶校验码校验矩阵H的大小为JZ×LZ。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数集合包括参数p₁、参数p₂、参数p₃以及参数a_i，其中，1≤i≤J-1，所述构造基矩阵B(H)的校验部分B(H_P)包括：

设置位于所述校验部分B(H_P)的主对角线上的第1行第1列的元素为向量[p₃，p₁]，位于所述校验部分B(H_P)的主对角线上的第J行第J列的元素为向量[0，a_J-1]，位于所述校验部分B(H_P)的主对角线上的其余元素为0；

设置位于所述校验部分B(H_P)的主对角线低一行的对角线上的第2行第1列的元素为零矩阵，位于所述校验部分B(H_P)的主对角线低一行的对角线上的第3行第2列的元素为参数a₁，位于所述校验部分B(H_P)的主对角线低一行的对角线上的第4行第3列的元素为参数a₂，以此类推，位于所述校验部分B(H_P)的主对角线低一行的对角线上的第J行第J-1列的元素为参数a_i-2；

设置位于所述校验部分B(H_P)的主对角线高一行的对角线上的任一元素为参数0；

设置位于所述校验部分B(H_P)的第J行第1列上的元素为参数p₂。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述构造基矩阵B(H)的校验部分B(H_P)还包括：

控制位于所述参数集合中的任一参数遍历位于目标区间内的任一整数，以确定位于所述参数集合中的任一满足预设条件的参数；

所述预设条件包括：

参数a_i≠0，i＝1、2…J-1；

参数a_i≠参数a_i-1，i＝1、2…J-1；

参数a_J-1+参数a_J-3-参数a_J-2≠0；

参数a_J-2+参数a_J-1≠0且参数a_J-2-2参数a_J-1≠0；

参数p₁≠参数p₃；

参数a_J-1+参数p₁-参数p₃≠0且参数a_J-1-参数p₁+参数p₃≠0。