[发明专利]一种干涉仪装配质量检测系统

说明书

一种干涉仪装配质量检测系统，由测试系统与被测干涉仪光路组成完整保偏光纤陀螺最小互易性结构，本发明可以通过探测器输出电压判断干涉仪光路装配损耗，提前发现干涉仪光路损耗问题，提高装配合格率，降低生产成本。

技术领域

本发明涉及一种干涉仪装配质量检测系统，属于光纤产品检测技术领域。

背景技术

干涉仪光路是一闭环光路，是由光纤环和Y波导组成，不具备在熔接点装配中实时检测的条件。判断熔接点质量的好坏，完全依赖于光纤熔接机的估算结果。然而装配光路所用的光纤熔接机损耗估算的准确性不足，损耗估算结果仅能作为参考，只有在光路装配完毕后的光电联调阶段才能发现干涉仪光路损耗偏大的问题，一旦发生损耗大的问题，会在以下三个方面造成经济损失：

1、由于光纤陀螺仪的光路为了避免振动超差已部分固化，修复故障陀螺会直接造成Y波导、或整个陀螺光路报废；

2、光电联调阶段发现故障，可能的故障范围广，排查过程复杂费力，效率低；

3、光电联调阶段发现故障时再进行返修，需要将陀螺所有已装配的部分拆除，恢复到初始状态进行返工，返工工作量大，成本高。

发明内容

本发明的技术解决问题：克服现有技术的不足，提供一种干涉仪装配质量检测系统，可以判断干涉仪光路装配损耗，提前发现干涉仪光路损耗问题，提高装配合格率，降低生产成本。

本发明的技术解决方案是：

一种干涉仪装配质量检测系统，包括：壳体、风扇、光路检测系统、检测电路、电信号探测器、FC/APC接头；

风扇、光路检测系统、检测电路和电信号探测器安装在壳体内部，风扇用于给壳体内部降温，光路检测系统通过安装在壳体上的FC/APC接头连接外部待检测的干涉仪，同时，光路检测系统通过电信号探测器与检测电路连接成回路，用于检测外部干涉仪的光功率。

所述光路检测系统包括光源、3×3耦合器、2×2耦合器、光路支撑壳体和裸管探测器；

光路支撑壳体固定在壳体的内部底板上，光路检测系统包括光源、3×3耦合器、2×2耦合器和裸管探测器均安装在光路支撑壳体上；光源提供光信号，与3×3耦合器的输入端熔接在一起，通过3×3耦合器分光为三路，一路与裸管探测器连接，用于检测光功率并输出；另外两路均与2×2耦合器的一个输入端连接，经过2×2耦合器分光之后，其中一路连接到FC/APC接头；2×2耦合器的另外一路输入端还连接到电信号探测器。

光源产生的光信号的波长与待测干涉仪的工作波长相同。

所述光纤熔接的位置处设置有光纤熔接管。

所述检测电路包括光源驱动电路、温控电路、电压测量电路、光功率测量电路和电源；

电源给光源驱动电路、温控电路、电压测量电路和光功率测量电路供电，光源驱动电路用于给光路检测系统中的光源提供驱动信号，控制光源产生的光信号功率；温控电路用于给光路检测系统中的光源控制温度；电压测量电路用于测量电信号探测器的输出电压，光功率测量电路用于测量裸管探测器的输出光功率。

本发明与现有技术相比的有益效果为：

(1)本发明的测试系统与被测干涉仪光路组成完整保偏光纤陀螺最小互易性结构，通过探测器输出电压判断干涉仪光路装配损耗，发现干涉仪光路损耗问题。

(2)本发明可以提前精确判定干涉仪光路装配质量，解决了原有技术依靠光纤熔接机的估算结果判定判断熔接点质量准确性不足的问题，且本系统可在干涉仪装配完成后即可实时进行装配质量检测，无需按照原有技术，等到光电联调时才可知道干涉仪光路的装配质量，克服了原有技术的不足，提高生产合格率，并有效降低了生产成本。

附图说明