[发明专利]一种通过脚本进行界面自动测试的方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路计算机辅助设计领域，尤其涉及一种通过脚本进行界面自动测试的方法。

背景技术

在集成电路设计流程中使用的设计工具，为了实现与用户的交互都会存在界面，特别是在原理图编辑和版图编辑等工具中。在这种类型的工具中每条命令都会有很多参数，所有参数配置都会放到命令界面中，这些参数既能实现单个功能同时也会和其他参数组合使用，这就要求界面程序在单个参数及各种参数组合中均保证功能正确，并且每次对功能的改进不会影响原本正确的功能。

既要保证每个功能点的正确同时还要确保各种参数组合正确，因而需要进行有效测试。点功能改进之后，需要对全部相关功能进行重复测试，人工测试很难覆盖到全部，会经常出现测试点遗留，从而导致修改功能点时反复出现问题。如果每次修改都需要人工验证，人工测试工作量巨大，且效果不能得到有效保证，很难保证各种参数组合功能都正确。

因此，提出一种通过脚本进行界面自动测试的方法，能够自动进行集成电路设计工具的功能测试以及回归测试，确保界面功能的正确性，成为亟待解决的问题。

发明内容

为了解决现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种通过脚本进行界面自动测试的方法，能够自动进行集成电路设计工具的功能测试以及回归测试，确保界面功能的正确性。

为实现上述目的，本发明提供的通过脚本进行界面自动测试的方法，包括以下步骤：

（1）自定义一组记录界面操作的命令集；（2）回放自定义的命令集，模拟界面操作的过程。

进一步地，所述命令集包括：用户在绘图区域进行鼠标左键点击操作、右键点击操作、左键双击操作、左键框选操作及右键框选操作，以及用户在界面中输入字符串、对控件内容进行选择的操作。

进一步地，所述界面操作具体包括：手动测试多个组合功能、手动测试某一功能及手动绘制mos管器件。

所述步骤（1）包括步骤：（11）基于测试数据，通过脚本文件，生成测例；（12）对单个测例进行测试。

进一步地，所述步骤（1）还包括步骤：（13）批量测试所述测例。

进一步地，所述步骤（13）包括步骤：（121）当所述测例存在问题时，修改所述测例；（122）当所述功能出现问题时，修改所述功能。

所述步骤（2）进一步包括步骤：控制回放速度的快慢。

本发明的通过脚本进行界面自动测试的方法，通过记录界面中控件的操作行为的命令所对应的操作过程，实现回放控件的基本操作行为，达到记录和模拟所有界面操作的目的。并且还可以在记录界面操作的界面行为的同时，使用记录下的脚本命令对界面操作进行模拟人工手动操作。

本发明的通过脚本进行界面自动测试的方法，不仅大大降人工测试的工作量，还能够自动对改进功能进行回归测试，并且还能够有效避免人工操作带来的错误，极大地提高了集成电路工具测试的效率。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本发明的实施例一起，用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为根据本发明的通过脚本进行界面自动测试的方法流程图；

图2为根据本发明的自定义命令集的生成及回放测试过程流程图；

图3为根据本发明的记录界面操作过程的示意图；

图4为根据本发明的记录界面操作的脚本文件的命令图；

图5为根据本发明的执行记录的脚本文件的示意图；

图6为根据本发明的执行记录的脚本文件的界面操作的示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

图1为根据本发明的通过脚本进行界面自动测试的方法流程图，下面将参考图1，对本发明的通过脚本进行界面自动测试的方法进行详细描述。

在步骤101，自定义一组记录界面操作的命令集；

其中，命令集包括：用户在绘图区域进行鼠标左键点击操作、右键点击操作、左键双击操作、左键框选操作及右键框选操作等，以及用户在界面中输入字符串、对控件内容进行选择等操作。

图2为本根据发明的自定义命令集的生成及回放测试过程流程图，如图2所示，自定义命令集的生成及回放测试具体包括如下步骤：

（1）通过测试数据，进行界面操作；